[发明专利]化学反应光谱的CIELAB色空间C*值与物质量计算方法

说明书

本发明公开了化学反应光谱的CIELAB色空间C^*值与物质量计算方法，将化学反应容器内的化学反应溶液在可见光波长范围内依次测量加入的不同反应物体积V值对应的吸光度值，并计算为CIELAB色空间参数彩度C^*值，同步测量加入的不同反应物体积V值对应的pH值或者氢离子浓度c_[H+]值，将C^*值、pH值、c_[H+]值经过数据降噪后计算出对应的C^*_噪值、pH_噪值、c_[H+]噪值，将该C^*_噪值参数与加入的不同反应物体积V值计算出C^*_衍值，并与对应的pH_噪值或者c_[H+]噪值建立平面直角坐标曲线，实现了化学反应同步测量可见光光谱谱曲线测量的计算方法，可实现化学反应光谱滴定测量的自动化、批量化的检测。

技术领域

本发明涉及测量技术领域，尤其涉及化学反应光谱的CIELAB色空间C^*值与物质量计算方法。

背景技术

化学反应离不开溶液中离子变化，不同化学反应的成分对可见光光谱的吸收与反射不同，这种对相同光源光谱的影响与溶液中各化学成分的化学结构有关。这种专利技术包含了连续光谱、溶液离子、试剂加入试剂的体积的精确测量和计算，经过去除高频噪音的干扰，建立直观的平面直角坐标系的化学反应光谱变化曲线。用实时可见光谱的变化，为了解、观察化学反应的进程带来了新颖且直观的检测手段。

目前，化学界常用的可见光谱测量化学反应的方法是通过单次测量结果估算化学反应进程，测量精度差、劳动强度大、方法简陋且繁琐，尚没有用化学反应光谱滴定的反应曲线计量突变点。国内外尚无用实时色度值参数建立平面直角坐标系化学反应光谱变化曲线对化学反应溶液进程检测、分析的方法，该方法将对可见光谱产生影响的化学反应直观、即时的用曲线在坐标系中表示出来，采用衍生参数C^*衍作为纵坐标与pH值、c_[H+]、加入试剂的体积V为横坐标，建立光谱参数与pH值、c_[H+]或者加入试剂的体积V的化学反应可见光谱反应曲线，该曲线可以实现实时的测量和反应化学反应变化，进行化学形态的表征。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的化学反应光谱的CIELAB色空间C^*值与物质量计算方法。

为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

化学反应光谱的CIELAB色空间C^*值与物质量计算方法，其特征在于，计算步骤包括：在对化学反应溶液在可见光波长范围内测量加入的不同反应物体积V值对应的一组波长的吸光度值，计算出CIELAB色空间的彩度将该组C^*值数据经过数学方程降噪后，计算出该点的C^*_噪参数，将C^*_噪与加入的不同反应物体积V值计算出C^*_噪的衍生参数C^*_衍，同步测量加入的不同反应物体积V值对应的pH值，将pH值计算为c_[H+]，将pH值和c_[H+]数据经过数学方程降噪后为pH_噪值和c_[H+]噪，再将衍生参数C^*_衍按加入的不同反应物体积V值顺序与对应的pH值_噪、c_[H+]噪建立三种平面直角坐标系，该平面直角坐标系中的曲线即为化学反应CIELAB色空间的C^*_衍参数与反应物体积V代表的物质特征量的坐标曲线；