[发明专利]一种具有测试服务器硬件温度的测试终端

权利要求书

1.一种具有测试服务器硬件温度的测试终端，其特征在于，包括：终端本体(1)；终端本体(1)上设有显示屏(2)，网络连接控制按键(8)和测试控制按键组(3)；

终端本体(1)内部设有主板，主板上设置有语音提示模块(4)、处理器(11)、通信模块(5)、IO接口模块(7)、存储器(6)和用于给终端本体(1)元件供电的供电电池(12)；

语音提示模块(4)，显示屏(2)，通信模块(5)以及存储器(6)分别与处理器(11)连接；

网络连接控制按键(8)和测试控制按键组(3)分别通过IO接口模块(7)与处理器(11)连接；

存储器(6)内部存储有CPU测试工具脚本、内存测试工具脚本、硬盘测试工具脚本、网卡测试工具脚本、主板测试工具脚本，显卡测试工具脚本处理器(11)通过网络连接控制按键(8)获取网络连接控制指令，调取通信模块(5)，使通信模块(5)与待测服务器进行网络通信连接，通信模块(5)与待测服务器网络连接成功后，向处理器(11)回复网络连接成功信号，处理器(11)将网络连接成功信号显示到显示屏(2)上；

测试控制按键组(3)包括：CPU测试工具脚本控制按键、内存测试工具脚本控制按键、硬盘测试工具脚本控制按键、网卡测试工具脚本控制按键、主板测试工具脚本控制按键，显卡测试工具脚本控制按键；

处理器(11)通过CPU测试工具脚本控制按键获取CPU测试工具脚本传输控制指令，将CPU测试工具脚本传输至待测服务器进行基于CPU的测试；

处理器(11)通过内存测试工具脚本控制按键获取内存测试工具脚本传输控制指令，将内存测试工具脚本传输至待测服务器进行基于内存的测试；

处理器(11)通过硬盘测试工具脚本控制按键获取硬盘测试工具脚本传输控制指令，将硬盘测试工具脚本传输至待测服务器进行基于硬盘的测试；

处理器(11)通过网卡测试工具脚本控制按键获取网卡测试工具脚本传输控制指令，将网卡测试工具脚本传输至待测服务器进行基于网卡的测试；

处理器(11)通过主板测试工具脚本控制按键获取主板测试工具脚本传输控制指令，将主板测试工具脚本传输至待测服务器进行基于主板的测试；

处理器(11)通过显卡测试工具脚本控制按键获取显卡测试工具脚本传输控制指令，将显卡测试工具脚本传输至待测服务器进行基于显卡的测试；

测试控制按键组(3)还包括温度阈值设置控制按键以及电源开关按键；

存储器(6)内部还存储有温度获取模块以及温度阈值设置模块；

处理器(11)通过温度阈值设置控制按键及温度阈值设置模块获取CPU运行温度阈值、内存运行温度阈值、硬盘运行温度阈值以及显卡运行温度阈值；

处理器(11)通过电源开关按键获取测试终端的电源开关控制指令；

处理器(11)通过温度获取模块获取CPU运行温度、和/或内存运行温度、和/或硬盘运行温度、和/或显卡运行温度；

并将温度信息与温度阈值设置模块设置的温度阈值进行比对判断是否超出阈值；处理器将当前的待测服务器的温度信息储存至存储器(6)；当待测服务器的温度信息超出阈值时，语音提示模块(4)发出提示信息；

存储器(6)内部还存储有测试时长设置模块；

处理器(11)通过测试控制按键组(3)获取待测服务器测温控制指令，调取温度获取模块获取待测服务器的温度信息，并按照测试时长设置模块设置的测试时长对待测服务器的CPU运行温度、和/或内存运行温度、和/或硬盘运行温度、和/或显卡运行温度进行温度测试；

待测服务器用于将向处理器发送的温度信息进行封装，温度信息包括：MAC地址层，处理器IP层，数据帧段；

数据帧段中包括，待测服务器地址码，CPU温度测试值，或/和硬盘温度测试值，或/和显卡温度测试值，或/和电源温度测试值，或/和机箱内部温度测试值；

在数据帧段中设有奇偶信息编码，当奇偶信息编码为偶数时表示此消息是一条请求，当奇偶信息编码为奇数时表示此消息是一条响应；当消息是一条基本的控制请求时，字节为00h；当消息是一条状态响应时，字节为01h；

在数据帧段中还设有处理器自行生成的一序列号，当处理器发出多条温度获取请求时用以标识不同的请求；请求获取CPU温度测试值，或/和硬盘温度测试值，或/和显卡温度测试值，或/和电源温度测试值，或/和机箱内部温度测试值；

主板上还设置有测试初始设置电路，直流变压电路(14)以及稳压电路(15)；

终端本体(1)上设有测试初始控制按键(13)；

测试初始控制按键(13)通过测试初始设置电路连接处理器(11)，用于根据接收的测试初始指令对处理器(11)进行测试初始化设置；

供电电池(12)，测试初始控制按键(13)，直流变压电路(14)，稳压电路(15)，测试初始设置电路以及处理器(11)依次连接；

测试初始控制按键(13)用于获取用户输入的测试初始设置控制指令，并达到预设的按压时长后，使供电电池(12)给测试初始设置电路供电实现对处理器(11)测试初始设置；

测试初始设置电路包括：初始电阻R1、初始电阻R2、初始电阻R3，初始电容C1，初始电容C2，初始二极管VD、初始三级管Q；初始电阻R3的第一端、初始电容C1的正极均与测试初始设置电路输入端连接；初始电容C1的负极与初始电阻R1的一端、初始二极管VD的阴极连接；初始电阻R1的另一端与初始电阻R2的一端、初始三级管Q的b极连接；初始三级管Q的c极与初始电容C2的第一端连接；初始电阻R3的第二端、初始二极管VD的阳极、初始电阻R2的第二端、初始三级管Q的e极、初始电容C2的第二端均接地。