[发明专利]一种坏块标记的方法以及相关装置

说明书

本发明实施例公开了一种坏块处理的方法，包括：当第一目标数据处理错误时，对所述第一目标数据进行软解码操作；若所述第一目标数据软解码成功，则判断所述第一目标数据的损坏数据量是否大于第一预设阈值；若所述损坏数据量大于所述第一预设阈值，则判断目标物理块出现数据处理失败的次数是否达到第二预设阈值；若所述目标物理块出现数据处理失败的次数达到所述第二预设阈值，则标记所述目标物理块为坏块。本发明实施例还公开了一种坏块处理装置。本发明实施例根据判断坏块标记的时机，有效地平衡固态硬盘的使用寿命和读写效率之间的关系，提升了系统的抗错误能力以及可靠性。

技术领域

本发明涉及数据处理技术领域，尤其涉及一种坏块标记的方法以及相关装置。

背景技术

随着互联网、云计算、物联网以及大数据等技术的发展及广泛应用，每时每刻都需要对海量数据进行处理和存储，因此，对存储系统的性能提出了更高的要求。而固态硬盘(Solid State Drives，SSD)因为其具有读写速度快以及能耗低等特点，被广泛的应用。SSD由主控芯片以及闪存芯片组成，通常闪存芯片的类型为与非型闪存(nand flash)，主控芯片负责SSD内部的管理，闪存芯片负责存储数据。

SSD中的主控芯片具有一项数据处理的功能，错误检查和纠正机制(errorcorrecting code，ECC)。目前ECC中常用的纠错编码为低密度奇偶校验码(low-densityparity check，LDPC)，ECC采用LDPC进行纠错，纠错的机制可分为软解码(soft decoding)以及硬解码(hard decoding)，其中硬解码为正常读操作中必要的步骤，软解码为当正常读操作出现失败时进行的步骤，用于降低数据错误率。在ECC机制中，主控芯片可以通过电压仿真指令调节闪存芯片中读取电压的阈值，使得主控芯片可以从闪存芯片中获取正确的数据。在ECC机制中，主控芯片还可以通过标记闪存芯片中指定的物理块为坏块，使得指定的物理块不再参与读写操作。

在SSD的读写操作中，由闪存芯片导致的读写错误是难以避免的。一旦发生了读取错误，主控芯片可以在ECC机制下通过电压仿真指令读取正确数据，以及通过标记坏块的形式避免下次读取中同一物理块再次影响读取结果。但是，当前ECC机制中，标记坏块的判断依据以及确定发送电压仿真指令的时机的机制尚不明确，当错误的少标记坏块，会引起数据错误率的提升，提升产生错误数据的风险，如果错误的多标记坏块，则会导致系统的正常存储空间的缩小，缩短了固态硬盘的使用寿命，由于ECC机制中，采用LDPC编码进行软解码可以纠错部分数据，当目标数据的损坏数据量过小时，系统可以识别出正确数据，此时发送电压仿真指令，影响了读取效率，占用了指令通道资源。

发明内容

本发明实施例提供了一种坏块标记的方法以及相关装置，有效平衡了坏块标记率和数据错误率之间的关系，有效地平衡固态硬盘的使用寿命和读写效率之间的关系，提升了系统的抗错误能力以及可靠性。

有鉴于此，本发明第一方面提供了一种坏块标记的方法，包括：

当第一目标数据处理错误时，对所述第一目标数据进行软解码操作；

若所述第一目标数据软解码成功，则判断所述第一目标数据的损坏数据量是否大于第一预设阈值；

若所述损坏数据量大于所述第一预设阈值，则判断目标物理块出现数据处理失败的次数是否达到第二预设阈值，所述目标物理块用于存储所述第一目标数据；

若所述目标物理块出现数据处理失败的次数达到所述第二预设阈值，则标记所述目标物理块为坏块。

结合本发明实施例的第一方面，在第一方面的第一种可能的实现方式中，所述对所述第一目标数据进行软解码操作之后，所述方法还包括：

若所述第一目标数据软解码失败，则标记所述目标物理块为坏块。