[发明专利]一种串行连接小型计算机系统接口SAS测试系统

说明书

本申请实施例公开了一种串行连接小型计算机系统接口SAS测试系统，所述SAS测试系统包括待测试印刷电路板PCBA和固态硬盘SSD治具；所述SSD治具包括控制单元和存储单元；所述控制单元与所述待测试PCBA连接，所述控制单元用于将所述待测试PCBA发送的写入数据写入所述存储单元中，以及读取所述存储单元中所存储的数据，并将该数据向所述待测试PCBA发送；所述存储单元与所述控制单元连接，所述存储单元用于存储数据，以便所述控制单元将数据写入所述存储单元，以及读取所述存储单元所存储的数据。可见，该SAS测试系统，可以实现在保证对存储主柜或者存储扩展柜进行读写测试的基础上，降低测试成本。

技术领域

本申请涉及电子测试领域，特别是涉及一种串行连接小型计算机系统接口SAS测试系统。

背景技术

通常，一台存储主柜或者存储扩展柜需要配置多块硬盘，面对如此多的硬盘盘位，对于印刷电路板(Printed Circuit Board+Assembly，PCBA)加工厂，以及服务器和存储成品组装厂来说，需要保证主板连接的每一个盘位的链路连接、硬盘读写等都是能够正常工作的。

现有技术中，由于PCBA在板级测试时已经测试过，但是可能存在漏测的情况，故在组装整机时需要再进行测试一遍。在PCBA测试阶段中，需要将存储主柜或者存储扩展柜中的所有盘位插满串行连接小型计算机系统接口(Serial Attached SCSI，SAS)硬盘，通过对SAS硬盘进行读写测试，以保证每一个盘位都连接正确，读写正常。

然而，在测试一批或多批存储主柜或者存储扩展柜中的盘位时，需要将用于测试的硬盘反复插入不同的存储主柜或存储扩展柜中，在该测试过程中，可能会发生撞件等导致硬盘损坏的不良事件，这样，容易导致硬盘损坏。由于硬盘的成本较高，若长期使用硬盘对存储主柜或者存储扩展柜中的盘位进行读写测试，会导致测试成本过高。另外，在组装整机时，为整机配置的硬盘数量会出现不满配甚至空盘(即一个硬盘也没有)的情况，在该情况下，会导致整个系统中的SAS链路没有测试项以对盘位进行测试，无法保证系统的每一个盘位都连接正确，读写正常。

发明内容

为了解决上述技术问题，本申请提供了一种串行连接小型计算机系统接口SAS测试系统，以实现在保证对存储主柜或者存储扩展柜进行读写测试的基础上，降低测试成本。

本申请实施例公开了如下技术方案：

本申请实施例提供了一种串行连接小型计算机系统接口SAS测试系统，所述SAS测试系统包括待测试印刷电路板PCBA和固态硬盘SSD治具；所述SSD治具包括控制单元和存储单元；

所述控制单元与所述待测试PCBA连接，所述控制单元用于将所述待测试PCBA发送的写入数据写入所述存储单元中，以及读取所述存储单元中所存储的数据，并将该数据向所述待测试PCBA发送；

所述存储单元与所述控制单元连接，所述存储单元用于存储数据，以便所述控制单元将数据写入所述存储单元，以及读取所述存储单元所存储的数据。

可选的，所述SSD治具还包括硬盘连接器，所述待测试PCBA还包括SAS连接器；

所述硬盘连接器与所述SAS连接器连接，并且，所述硬盘连接器与所述控制单元连接；所述硬盘连接器通过所述硬盘连接器发送、接收数据；所述待测试PCBA通过所述SAS连接器发送、接收数据。

可选的，所述控制单元通过线缆连接或者转接板与所述待测试PCBA连接。

可选的，所述存储单元包括闪存。

可选的，所述存储单元的存储容量为64G或128G。