[发明专利]一种利用光学透射率检测石墨烯层数的方法在审
| 申请号： | 201810837379.X | 申请日： | 2018-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN108956547A | 公开（公告）日： | 2018-12-07 |
| 发明（设计）人： | 朱授恩 | 申请（专利权）人： | 同天（福建）石墨烯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/59 | 分类号： | G01N21/59;G01N21/33 |
| 代理公司： | 北京和联顺知识产权代理有限公司 11621 | 代理人： | 叶友伟 |
| 地址： | 350007 福建省福州市仓山区城门镇南江滨西大道198*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 石墨烯 透射率 石墨烯层 紫外可见光谱仪 光学透射率 修正系数 积分球 检测 光学透射率测量 范德瓦尔斯 二维材料 面阵图像 样品移动 均匀性 样品层 对层 多层 二维 线阵 制备 扫描 应用 | ||
1.一种利用光学透射率检测石墨烯层数的方法，其特征在于包括如下步骤：
1)制备多组已知层数Ni的石墨烯试样，石墨烯试样的组数计为n；
2)利用带积分球的紫外可见光谱仪，测定已知层数Ni的石墨烯试样对应的透射率Ti，根据已知层数Ni、透射率Ti计算修正系数f(w)：
α为精细结构常数；
3)利用带积分球的紫外可见光谱仪，测定未知层数N的石墨烯试样对应的透射率T；
4)根据透射率T、修正系数f(w)计算待测石墨烯的未知层数N：
α为精细结构常数。
2.根据权利要求1所述的利用光学透射率检测石墨烯层数的方法，其特征在于：所述石墨烯试样的制备方法为，先用化学气相沉积法合成大面积的石墨烯薄膜，然后用铜和镍催化剂分别制备单层石墨烯和多层石墨烯薄膜，进而用PMMA将单层和多层石墨烯薄膜转移到透明基板上，继而蚀刻金属催化剂并浸泡在去离子水中，在透明基板上释放石墨烯，最后用丙酮溶解PMMA，得到已知层数Ni的石墨烯试样。
3.根据权利要求1所述的利用光学透射率检测石墨烯层数的方法，其特征在于：所述紫外可见光谱仪为Shimazdu紫外可见光谱仪UV-3600。
4.根据权利要求1所述的利用光学透射率检测石墨烯层数的方法，其特征在于：所述紫外可见光谱仪检测透射率时的入射光频率选为550nm。
5.根据权利要求1所述的利用光学透射率检测石墨烯层数的方法，其特征在于：所述紫外可见光谱仪中的积分球是一个中空的完整球壳，积分球内壁涂MgO或者BaSO4白色漫反射层，且球内壁各点漫反射均匀。
6.根据权利要求1所述的利用光学透射率检测石墨烯层数的方法，其特征在于：所述石墨烯试样检测时放置在积分球中心，并利用支架带动其进行旋转，积分球能够测量石墨烯试样的反射率图谱，紫外可见光谱仪测试系统根据过程能量守恒定律转换得到透射率图谱。
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