[发明专利]一种面板的光学检测方法

权利要求书

1.一种面板的光学检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1：提供待检测的面板和检测装置，其中所述检测装置设置有预压接站和光学检测站；

步骤2：对所述步骤1中的所述面板在预压接站进行预压接，所述预压接包括检测所述面板为废品或良品，若为废品，所述预压接站产生第一压接信号，若为良品，所述预压接站产生第二压接信号；

步骤3：根据所述步骤2中预压接信号判断所述面板是否需要进入所述光学检测站，若为所述第一压接信号，则将所述面板输出所述检测装置，若为所述第二压接信号，则将所述面板移送至所述光学检测站；

步骤4：对所述步骤3中进入所述光学检测站的所述面板进行光学检测；或者，当所述光学检测站满载时，将待移送至所述光学检测站的所述面板移送至下游工站暂存，并在所述光学检测站空闲时，将暂存的所述面板移送至所述光学检测站进行光学检测。

2.根据权利要求1所述的面板的光学检测方法，其特征在于，所述预压接站的预压接装置(300)包括双层移载机构(330)和第一对位压接机构(310)；所述步骤2具体包括：

步骤S21、装载所述面板至位于入料位(320)的所述双层移载机构(330)上；

步骤S22、移动所述双层移载机构(330)至第一对位压接位(340)并将所述面板与所述第一对位压接机构(310)进行预对位和预压接；

步骤S23、移动所述双层移载机构(330)至出料位(360)，并卸载所述面板。

3.根据权利要求2所述的面板的光学检测方法，其特征在于，所述步骤S22中的所述双层移载机构(330)包含交替并依次移动至所述入料位(320)、所述第一对位压接位(340)及所述出料位(360)的上层移载平台(331)和下层移载平台(332)。

4.根据权利要求2所述的面板的光学检测方法，其特征在于，在所述步骤3中，若所述预压接信号为所述第一压接信号，则卸载所述步骤S23中的所述面板至所述检测装置的传输机构(520)，以将所述面板传输出所述检测装置。

5.根据权利要求2所述的面板的光学检测方法，其特征在于，在所述步骤3中，若所述预压接信号为所述第二压接信号，则卸载所述步骤S23中的所述面板至所述光学检测站。

6.根据权利要求1所述的面板的光学检测方法，其特征在于，所述光学检测站包含至少两个光学检测装置(400)，所述步骤4中对所述面板进行光学检测前还包括：加载所述面板至所述光学检测装置(400)上。

7.根据权利要求6所述的面板的光学检测方法，其特征在于，所述光学检测站还包含中转装置(510)，所述步骤4中将所述面板移送至所述下游工站前还包括：加载所述面板至所述中转装置(510)，以通过所述中转装置(510)将所述面板移送至所述下游工站。

8.根据权利要求6所述的面板的光学检测方法，其特征在于，当各所述光学检测装置(400)皆装载有面板时，则移送所述步骤3中进入光学检测站的所述面板至所述下游工站。

9.根据权利要求1所述的面板的光学检测方法，其特征在于，所述光学检测站包含承载平台(415)和第二对位压接机构(417)，在所述步骤4中对所述面板进行光学检测的步骤包含：

步骤S41：加载进入所述光学检测站的所述面板至所述承载平台(415)上；

步骤S42：将所述承载平台(415)上的所述面板与所述第二对位压接机构(417)进行对位和压接；

步骤S43：对压接后的所述面板进行光学检测，并判定检测结果。

10.根据权利要求9所述的面板的光学检测方法，其特征在于，所述步骤S43中还包含：对压接后的所述面板进行翻转，翻转的角度为-90°～+90°；其中翻转轴与压接后的所述面板的压接边的中垂线平行。