[发明专利]一种基于图像检测的激光修正PCB板缺陷法在审
申请号: | 201810843038.3 | 申请日: | 2018-07-27 |
公开(公告)号: | CN108990299A | 公开(公告)日: | 2018-12-11 |
发明(设计)人: | 尹明;熊德基;谢胜利 | 申请(专利权)人: | 广东工业大学 |
主分类号: | H05K3/22 | 分类号: | H05K3/22;G01B11/00;G01B11/28 |
代理公司: | 广东广信君达律师事务所 44329 | 代理人: | 杨晓松 |
地址: | 510062 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 残铜 激光修正 图像处理技术 图像检测 修正区域 缺陷法 修复 数字图像处理技术 图像 激光技术应用 激光烧蚀系统 图像采集系统 修正 激光技术 检测系统 面积检测 融合应用 传统的 烧烛 激光 检测 替代 | ||
1.一种基于图像检测的激光修正PCB板缺陷法,其特征在于,包括如下具体步骤:
S1.通过图像采集系统获取PCB图像;
S2.通过残铜检测系统对获取的PCB图像进行PCB残铜的坐标和面积检测,并划分残铜的待修正区域;
S3.利用激光烧蚀系统修正激光对残铜的待修正区域中的残铜进行烧烛,从而实现激光修正PCB板缺陷。
2.根据权利要求1所述的基于图像检测的激光修正PCB板缺陷法,其特征在于,步骤S1中所述图像采集系统包括摄像模块、光电耦合器模块和模数转换器模块,所述摄像模块包括镜头、摄像头、滤光镜和光源。
3.根据权利要求2所述的基于图像检测的激光修正PCB板缺陷法,其特征在于,所述光源为环形LED发光二极管,所述光电耦合器模块为高精密度线性光电耦合器件,根据基材与铜表面对光的反射程度不同,所述模数转换器模块得到连续的模拟图像信号,并将模拟图像信号转化为计算机能处理的数字信号。
4.根据权利要求1所述的基于图像检测的激光修正PCB板缺陷法,其特征在于,步骤S2中所述残铜检测系统包括:图像输入模块、二值化模块、连通域查找模块、连通域匹配模块、连通域分割模块和连通域细节检测模块,依次通过上述模块,缩小连通域搜索范围,精确定位残铜位置区域,检测出PCB残铜的坐标和面积信息。
5.根据权利要求4所述的基于图像检测的激光修正PCB板缺陷法,其特征在于,步骤S2中所述残铜检测系统的具体检测方法为:
S21.首先连通域查找模块对查找二值化后的图像进行连通域,统计各个连通域的质心和面积信息;
S22.连通域匹配模块以步骤S21所得的各个连通域的质心及面积信息为匹配标准,与电路图模板中的连通域进行对比,直至质心及面积信息的误差在预设范围内;所述连通域分为不匹配的连通域和匹配的连通域;
S23.连通域分割模块将步骤S22中的不匹配的连通域进行分割,使分割后的部分子连通域与电路图模板中的连通域匹配,进一步缩小未能匹配的子连通域的范围;
S24.连通域细节检测模块进一步筛选连通域,使其为匹配的连通域,最终提供残铜连通域的坐标位置和面积。
6.根据权利要求1所述的基于图像检测的激光修正PCB板缺陷法,其特征在于,步骤S3中所述激光烧蚀系统包括激光发生器、定位器、光线收缩装置、波形整形器、聚焦光学装置、角镜和控制器,所述聚焦光学装置包括第一级聚焦光器和第二级聚焦光器;所述第一级聚焦光学器包括第一物镜和第一透镜,所述第二级聚焦光学器包括第二物镜和第四透镜。
7.根据权利要求6所述的基于图像检测的激光修正PCB板缺陷法,其特征在于,所述角镜包括第一角镜、第二角镜和第三角镜,在第一角镜和第二角镜之间设有第二透镜,在第二角镜和第三角镜之间设有第三透镜。
8.根据权利要求6所述的基于图像检测的激光修正PCB板缺陷法,其特征在于,激光发生器产生激光束,激光束通过光线收缩装置,改变由激光发生器输出的激光强度,激光通过波形整形器以形成激光烧蚀所需的脉冲波形;从控制器出发,定位器与激光发生器相连接,依次通过光线收缩装置、波形整形器,通过第一级聚焦器,通过角镜反射,透镜折射的作用引导激光到达第二级聚焦光学器。
9.根据权利要求6-8任一项所述的基于图像检测的激光修正PCB板缺陷法,其特征在于,步骤S3中所述激光烧蚀系统的具体操作方法为:
S31.激光发生器产生激光束,激光束通过光线收缩装置,改变由激光发生器输出的激光强度,激光通过波形整形器以形成激光烧蚀所需的脉冲波形;
S32.脉冲波形依次通过第一物镜和第一透镜使激光束聚焦,经过聚焦的激光束会通过角镜改变激光的前进方向;
S33.步骤S32获得的激光束再依次通过第二物镜和第四透镜,保证激光能垂直照射到基板上,并使激光束最终行至需要烧蚀的残铜的位置。
10.权利要求1-9任一项所述的基于图像检测的激光修正PCB板缺陷法在数字图像处理领域中的应用。
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