[发明专利]基于N极性氮化物材料的光电转换结构及制备方法在审

专利信息
申请号: 201810844475.7 申请日: 2018-07-27
公开(公告)号: CN109004055A 公开(公告)日: 2018-12-14
发明(设计)人: 许晟瑞;范晓萌;王学炜;郝跃;张进成;李培咸;张春福;马晓华;毕臻;艾立霞 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01L31/076 分类号: H01L31/076;H01L31/0304;H01L31/18
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;朱红星
地址: 710071 陕*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 光电转换结构 电场 极性氮化物 光照 氮化物材料 自发极化 衬底 制备 光电转换效率 太阳能电池 促进作用 中心原子 成核层 高效率 最表层 可用 制作
【权利要求书】:

1.一种基于N极性氮化物材料的光电转换结构,自下而上包括:衬底(1)、高温AlN成核层(2)、i-GaN层(3)、n型GaN层(4)、i-InxGa1-xN层(5)和p型GaN层(6),其特征在于:高温AlN成核层(2)、i-GaN层(3)、n型GaN层(4)、i-InxGa1-xN层(5)和p型GaN层(6)均采用N极性氮化物材料,即材料的最表层中心原子为N原子,其自发极化产生的电场与光照产生的电场方向相同,起到了对光照产生电场的促进作用,提高了太阳能电池的光电转换效率。

2.根据权利要求1所述的光电转换结构,其特征在于:所述的衬底(1)所用材料是蓝宝石或SiC。

3.根据权利要求1所述的光电转换结构,其特征在于:

所述的高温AlN成核层(2)的厚度为20-30nm;

所述的i-GaN层(3)的厚度为2-3μm;

所述的n型GaN层(4)的厚度为1-2μm;

所述的p型GaN层(6)的厚度为100-200nm。

4.根据权利要求1所述的光电转换结构,其特征在于:i-InxGa1-xN层(5)的厚度为0.2μm,In含量x的调整范围为0.15-0.3。

5.一种基于N极性氮化物材料的光电转换结构制备方法,包括如下步骤:

1)对衬底进行加热和高温氮化的预处理;

2)在预处理后的衬底上采用MOCVD工艺生长20-30nm的AlN成核层;

3)在AlN成核层上采用MOCVD工艺生长2-3μm的i-GaN层;

4)在i-GaN层上采用MOCVD工艺生长1-2μm的n型GaN层;

5)在n型GaN层上采用MOCVD工艺生长In含量x的范围为0.15-0.3、厚度为0.2μm的i-InxGa1-xN层;

6)在i-InxGa1-xN层上采用MOCVD工艺生长厚度为100-200nm的p型GaN层;

7)将反应室温度维持在800-1000℃,在H2气氛下,退火5-10min,完成对光电转换结构的制作。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,步骤2)中采用的MOCVD工艺,是对反应室设置如下条件参数:

反应室温度为1000-1200℃、压力为20-60Torr;

向反应室中同时通入流量为3500-5500sccm的氨气、流量为20-30sccm的铝源和流量为1200sccm氢气这三种气体。

7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,步骤3)中采用的MOCVD工艺,是对反应室设置如下条件参数:

反应室温度为1050℃、压力为20-560Torr;

向反应室同时通入流量为3000-3500sccm的氨气、流量为150-180sccm的镓源和流量为1200sccm氢气这三种气体。

8.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,步骤4)中采用的MOCVD工艺,是对反应室设置如下条件参数:

反应室温度为1000-1200℃、压力为20-560Torr;

向反应室同时通入流量为3000-3500sccm的氨气、流量为150-180sccm的镓源、流量为6-20sccm的硅源和流量为1200sccm氢气这四种气体。

9.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,步骤5)中采用的MOCVD工艺,是对反应室设置如下条件参数:

反应室温度为800-850℃、压力为20-60Torr;

向反应室中同时通入流量为1200-1500sccm的氮源、流量为40-80sccm的镓源、和流量为160-200sccm的铟源这四种气体。

10.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,步骤6)采用的MOCVD工艺,是对反应室设置如下条件参数:

反应室温度为1000-1200℃、压力为20-60Torr;

向反应室同时通入流量为3000-3500sccm的氨气、流量为150-180sccm的镓源、流量为100-300sccm的镁源和流量为1200sccm氢气这四种气体。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810844475.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top