[发明专利]中低频冲击响应谱测量装置

权利要求书

1.一种中低频冲击响应谱测量装置，其特征在于：该装置包括弹簧质量单元、主导向单元及电子测量单元；弹簧质量单元包括质量块(1-3a)和螺旋弹簧(1-2a)，主导向单元为主导向杆(1-1a)，电子测量单元包括与质量块(1-3a)连接并联动的磁环(1-3b-3)以及与主导向杆(1-1a)连接为一体的电子仓(4-3a)，磁环(1-3b-3)与主导向杆(1-1a)形成磁致伸缩位移传感器；质量块(1-3a)套在主导向杆(1-1a)上且质量块(1-3a)能沿着主导向杆(1-1a)的轴向移动，螺旋弹簧(1-2a)套在主导向杆(1-1a)上且螺旋弹簧(1-2a)的一端与质量块(1-3a)连接，螺旋弹簧(1-2a)的另一端与固定在主导向杆(1-1a)上的弹簧端支座(2-1b)连接；

在法兰盘(1-3b-4)的外沿设置有U型槽(1-3b-5)，在U型槽(1-3b-5)内穿过刻有刻度的副导向杆(4-2-1)，副导向杆(4-2-1)与主导向杆(1-1a)平行；在副导向杆(4-2-1)上还套有卡环(4-2-2)和滑动定位胶环(4-2-3)，卡环(4-2-2)设置在U型槽(1-3b-5)两侧，滑动定位胶环(4-2-3)套在卡环(4-2-2)外；卡环(4-2-2)外径大于U型槽(1-3b-5)的宽度，滑动定位胶环(4-2-3)外径大于卡环(4-2-2)内径，且内径与副导向杆(4-2-1)外径过盈配合，以防止卡环(4-2-2)与滑动定位胶环(4-2-3)在未受扰动时随意窜动；

质量块(1-3a)由质量块弹簧卡位(1-3b-1)、直线轴承(1-3b-2)、磁环(1-3b-3)和法兰盘(1-3b-4)；直线轴承(1-3b-2)、磁环(1-3b-3)在质量块内部，质量块通过直线轴承(1-3b-2)套在主导向杆(1-1a)上，磁环(1-3b-3)套在主导向杆(1-1a)上，磁环(1-3b-3)本身既为质量块一部分，又做为电子测量单元中磁致伸缩位移传感器的磁源。

2.根据权利要求1所述的中低频冲击响应谱测量装置，其特征在于：弹簧质量单元分为两种结构类型：双螺旋压簧质量型与单螺旋拉伸弹簧质量型；两者选其一；

单螺旋拉伸弹簧质量型：主导向杆(1-1a)上设置一个弹簧端支座(2-1b)，螺旋弹簧(1-2a)套在弹簧端支座(2-1b)与质量块(1-3a)之间，且两端分别连接弹簧端支座(2-1b)与质量块(1-3a)；

双螺旋压簧质量型：主导向杆(1-1a)上设置两个弹簧端支座(2-1b)，质量块(1-3a)设置在两个弹簧端支座(2-1b)之间，两个弹簧端支座(2-1b)与质量块(1-3a)之间均分别套有一根螺旋弹簧(1-2a)。

3.根据权利要求2所述的中低频冲击响应谱测量装置，其特征在于：双螺旋压簧质量型弹簧质量单元中的两根螺旋弹簧(1-2a)在安装时预压缩，其预压缩量大于或等于该测量装置的量程值；

以保证质量块(1-3a)在量程范围内运动时，两根螺旋弹簧(1-2a)时刻都处于压缩状态。

4.根据权利要求1所述的中低频冲击响应谱测量装置，其特征在于：主导向单元中的主导向杆既作为弹簧质量单元的导向，也是电子测量单元中的磁致伸缩位移传感器测量杆的外壳。