[发明专利]功耗优化方案确定方法、装置及设备有效
申请号: | 201810846157.4 | 申请日: | 2018-07-27 |
公开(公告)号: | CN109188256B | 公开(公告)日: | 2021-05-18 |
发明(设计)人: | 许超;陈华军;卢新元 | 申请(专利权)人: | 龙芯中科技术股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/317 | 分类号: | G01R31/317 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 孙静;刘芳 |
地址: | 100095 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 功耗 优化 方案 确定 方法 装置 设备 | ||
本发明实施例提供一种功耗优化方案确定方法、装置及设备,该方法包括:获取扫描链中每个扫描单元的扇出门信息,扇出门信息包括扫描单元对应的控制值的种类数、及每种控制值对应的扇出门的数量,控制值包括第一态和第二态;根据每个扫描单元对应的控制值的种类数、及每种控制值对应的扇出门的数量,确定每个扫描单元的权重值;根据每个扫描单元的权重值,在扫描链中确定至少一个目标扫描单元和每个目标扫描单元对应的优化方案,其中,目标扫描单元为需要增加硬件电路的扫描单元。用于节省为降低测试移位功耗带来的集成电路的硬件开销。
技术领域
本发明实施例涉及集成电路领域,尤其涉及一种功耗优化方案确定方法、装置及设备。
背景技术
目前,为了实现集成电路的可测试性,通常以扫描链的形式实现集成电路。扫描链中包括多个扫描单元,每一个扫描单元具有功能输出和测试输出。
在测试扫描移位模式下,并不关注扫描单元的功能输出。在现有技术中,为了降低测试模式下集成电路的功耗,可以在每一个扫描单元中增加硬件电路(例如或非门等),以使得在测试模式下,每一个扫描单元的功能输出恒定不变(恒为第一态0或者恒为第二态1),减少了扫描单元的翻转,进而降低集成电路的功耗。然而,由于需要在每一个扫描单元中增加硬件电路,导致集成电路的硬件开销较大。
发明内容
本发明实施例提供一种功耗优化方案确定方法、装置及设备,节省了为降低测试移位功耗带来的集成电路的硬件开销。
第一方面,本发明实施例提供一种功耗优化方案确定方法,包括:
获取扫描链中每个扫描单元的扇出门信息,所述扇出门信息包括所述扫描单元对应的控制值的种类数、及每种控制值对应的扇出门的数量,所述控制值包括第一态和第二态;
根据每个扫描单元对应的控制值的种类数、及每种控制值对应的扇出门的数量,确定每个扫描单元的权重值;
根据每个扫描单元的权重值,在所述扫描链中确定至少一个目标扫描单元和每个目标扫描单元对应的优化方案,其中,所述至少一个目标扫描单元为需要增加硬件电路的扫描单元。
在一种可能的实施方式中,第一扫描单元为所述扫描链中任意一个扫描单元,针对所述第一扫描单元,所述根据每个扫描单元对应的控制值的种类数、及每种控制值对应的扇出门的数量,确定每个扫描单元的权重值,包括:若所述第一扫描单元对应的控制值的种类数为1,则将所述第一扫描单元的扇出门总数确定为所述第一扫描单元的权重值;
若所述第一扫描单元的对应的控制值的种类数为2,则获取第一扫描单元的第一态对应的扇出门数量与第二态对应的扇出门数量的差值的绝对值,并将所述绝对值与所述第一扫描单元的扇出门总数的比值确定为所述第一扫描单元的权重值。
在另一种可能的实施方式中,所述根据每个扫描单元的权重值,在所述扫描链中确定目标扫描单元和所述目标扫描单元对应的优化方案,包括:
建立扫描单元集合和扇出门集合,所述扫描单元集合包括所述扫描链中的每个扫描单元,所述扇出门集合包括所述扫描链中每个扫描单元的扇出门;
对所述扫描链进行单次优化方案确定操作,所述单次优化方案确定操作包括将所述扫描单元集合中当前权重值最高的扫描单元确定为一个目标扫描单元,并根据所述目标扫描单元的目标控制值确定所述一个目标扫描单元的优化方案,所述目标控制值对应的扇出门数量在所述目标扫描单元中最多;
对所述扫描单元集合中的扫描单元的扇出门信息进行扇出门信息更新操作;
对所述扇出门集合中的扇出门进行扇出门删除操作;
根据所述扫描单元集合中每个扫描单元的扇出门信息,对所述扫描单元集合中的扫描单元进行扫描单元删除操作;
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