[发明专利]基于透射型频控波束扫描器件的太赫兹成像系统有效

专利信息
申请号: 201810851758.4 申请日: 2018-07-27
公开(公告)号: CN110850499B 公开(公告)日: 2021-10-08
发明(设计)人: 李超;郑深;张晓娟;方广有 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01V8/10 分类号: G01V8/10;G01S17/89
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 鄢功军
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基于 透射 型频控 波束 扫描 器件 赫兹 成像 系统
【权利要求书】:

1.一种基于透射型频控波束扫描器件的太赫兹成像系统,其特征在于,包括:高斯波束馈源、抛物型反射面、透射型频控波束扫描器件、透镜一、平面反射镜、透镜二、测量信号接收模块以及数据处理模块;

其中,被测对象置于所述透镜二的远离所述平面反射镜一侧,所述高斯波束馈源发出的波束经所述抛物型反射面准直聚焦到所述透射型频控波束扫描器件上,衍射出的衍射波束经过所述透镜一到达所述平面反射镜,通过所述平面反射镜的旋转,将所述衍射波束经过所述透镜二聚焦照射到被测对象上,实现在坚直方向上的波束扫描;

所述抛物型反射面、所述透镜一以及所述透镜二的尺寸为其所在位置处的高斯波束宽度的1.2倍;

所述透镜一的焦点位于所述反射型频控波束扫描器件的中心线上;

所述高斯波束馈源的入射距离通过选择所述抛物型反射面的焦距调节;

不同频率的波束照射到透射型频控波束扫描器件上,有了射波束出射角度不一样,从而实现在水平方向上的波束扫描;

波束照射到被测对象上后的反射波沿着原出射光路返回,经过分束器被所述测量信号接收模块接收并传给所述数据处理模块,从而得到被测对象的信息。

2.根据权利要求1所述的基于透射型频控波束扫描器件的太赫兹成像系统,其特征在于,所述高斯波束馈源的E面、H面3dB波束宽度相同。

3.根据权利要求1所述的基于透射型频控波束扫描器件的太赫兹成像系统,其特征在于,所述高斯波束馈源为喇叭天线或馈源天线。

4.根据权利要求1所述的基于透射型频控波束扫描器件的太赫兹成像系统,其特征在于,所述抛物型反射面具有准直扩束作用;

所述透镜一和所述透镜二具有聚焦和扩大视场作用。

5.根据权利要求1所述的基于透射型频控波束扫描器件的太赫兹成像系统,其特征在于,通过调节所述平面反射镜到透镜一和透镜二的距离改善所述太赫兹成像系统成像质量的畸变。

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