[发明专利]基于反射型频控波束扫描器件的太赫兹成像系统有效
申请号: | 201810852073.1 | 申请日: | 2018-07-27 |
公开(公告)号: | CN110764158B | 公开(公告)日: | 2022-11-22 |
发明(设计)人: | 李超;郑深;张晓娟;方广有 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电子学研究所 |
主分类号: | G01V8/10 | 分类号: | G01V8/10;G01N21/3581;G01N21/01 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 反射 型频控 波束 扫描 器件 赫兹 成像 系统 | ||
1.一种基于反射型频控波束扫描器件的太赫兹成像系统,其特征在于,包括:
高斯波束馈源、反射型频控波束扫描器件、透镜一、透镜二、透镜三、平面反射镜、测量信号接收模块以及数据处理模块;
其中,被测对象置于所述透镜三的远离所述平面反射镜的位置,所述高斯波束馈源出射高斯波束,经过所述透镜一准直扩束照射到所述反射型频控波束扫描器件上,所述反射型频控波束扫描器件衍射出的衍射波束经过所述透镜二到达平面反射镜,经过平面反射镜的旋转,出射波束通过透镜三形成了竖直方向的扫描;
不同频率的波束照射到所述反射型频控波束扫描器件上,衍射波束的出射角度不一样,从而在水平方向上实现了扫描;
波束照射到被测对象上后的反射波沿着原出射光路返回,经过分束器被所述测量信号接收模块接收并传给所述数据处理模块,从而得到被测对象的信息;
所述透镜一与所述透镜二边缘相互接触,且所述透镜一、所述透镜二以及所述透镜三的尺寸为其所在位置处的高斯波束宽度的1.2倍。
2.根据权利要求1所述的基于反射型频控波束扫描器件的太赫兹成像系统,其特征在于,所述高斯波束馈源的E面、H面3dB波束宽度相同。
3.根据权利要求1所述的基于反射型频控波束扫描器件的太赫兹成像系统,其特征在于,所述高斯波束馈源为喇叭天线或馈源天线。
4.根据权利要求1所述的基于反射型频控波束扫描器件的太赫兹成像系统,其特征在于,所述透镜一具有准直扩束的作用;
所述透镜二和所述透镜三具有聚焦和扩大视场的作用。
5.根据权利要求1所述的基于反射型频控波束扫描器件的太赫兹成像系统,其特征在于,所述高斯波束馈源与入射距离通过选择所述透镜一的焦距调节。
6.根据权利要求1所述的基于反射型频控波束扫描器件的太赫兹成像系统,其特征在于,所述透镜二的焦点位于所述反射型频控波束扫描器件的中心线上。
7.根据权利要求1所述的基于反射型频控波束扫描器件的太赫兹成像系统,其特征在于,通过调节所述平面反射镜与所述透镜二、所述透镜三的距离改善所述太赫兹成像系统成像质量的畸变。
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