[发明专利]热电材料Seebeck系数的高精度测量方法

权利要求书

1.一种热电材料Seebeck系数的高精度测量方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

（a）制备测试探头：以已知Seebeck系数的铜（1）和康铜（2）作为测试探头的两个测试极，将两种金属物在端点处熔接为一体，并以该熔接点作为探测接触点，其中，铜（1）和康铜（2）的Seebeck系数分别记为S₁和S₂，同时制备两组测试探头；

（b）布置探测连接：将两组测试探头同时与被测热电材料通过探测接触点连接，且两组测试探头与被测热电材料的接触点不同，对其中一组测试探头加热；

（c）将两组测试探头的同一种金属物测试极与被测热电材料分别组成两个环路，分别检测两对测试极之间的电压，其中两个铜极之间的电压记为U₁，两个康铜极之间的电压记为U₂；

（d）计算被测热电材料的Seebeck系数S：

设两组测试探头在被测热电材料上的两个探测接触点之间的温差为△T，得

U₁=（S₁-S）×△T，

U₂=（S₂-S）×△T，U₁和U₂相除，最后得到

S=U₂×（S₂-S₁）/（U₁-U₂）+S₂。

2.根据权利要求1所述的热电材料Seebeck系数的高精度测量方法，其特征在于：在所述步骤（c）中，检测两对测试极之间的电压时，通过信号放大器放大后，再经过模数转换器转换，最后经过校准仪校准后测得U₁和U₂。

3.根据权利要求1所述的热电材料Seebeck系数的高精度测量方法，其特征在于：在所述步骤（a）中，所述铜（1）和康铜（2）不掺杂其它元素，且两种金属物均为均质金属物。

4.根据权利要求1所述的热电材料Seebeck系数的高精度测量方法，其特征在于：在所述步骤（b）中，对其中一组测试探头加热时，采用陶瓷加热片进行加热。