[发明专利]一种工具对位方法及其装置

权利要求书

1.一种工具对位方法，其特征在于，包括：

在底板第一侧壁设置第一点光源，相对第三侧壁设置第一线性图像传感器阵列；在底板第二侧壁设置第二点光源，相对第四侧壁设置第二线性图像传感器阵列；

在底板上设置控制单元，接收所述对位工具通过所述第一点光源与所述第一线性图像传感器阵列配合以及所述第二点光源与所述第二线性图像传感器阵列配合时的成像坐标后经处理得到位置坐标。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一点光源与所述第一线性图像传感器阵列连成的直线与所述第二点光源与所述第二线性图像传感器阵列连成的直线垂直相交。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一线性图像传感器阵列和所述第二线性图像传感器阵列分别由多个图像传感器按线性排列组成，且成垂直角度分别设置在所述底板的第三侧壁和第四侧壁。

4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述控制单元接收所述对位工具通过所述第一点光源与所述第一线性图像传感器阵列配合以及所述第二点光源与所述第二线性图像传感器阵列配合时的成像坐标后经处理得到位置坐标，包括：

接收处理所述对位工具通过第一点光源在所述第一线性图像传感器阵列的成像坐标后获得Y轴坐标；

接收处理所述对位工具通过第二点光源在所述第二线性图像传感器阵列的成像坐标后经处理获得X轴坐标；

通过所述对位工具的上下移动与由第一点光源和第二点光源的光线覆盖(X,Y)平面的交点，获得Z轴坐标，获得所述对位工具的位置坐标(X,Y,Z)。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还进一步包括：在所述第一点光源和所述第二点光源的边沿分别设置遮光模块，分别控制所述第一点光源发出的光线覆盖住所述第一线性图像传感器阵列以及所述第二点光源发出的光线覆盖住所述第二线性图像传感器阵列。

6.一种工具对位方法，其特征在于，包括：

接收处理所述对位工具通过第一点光源在所述第一线性图像传感器阵列的成像坐标后获得Y轴坐标；

接收处理所述对位工具通过第二点光源在所述第二线性图像传感器阵列的成像坐标后经处理获得X轴坐标；

通过所述对位工具的上下移动与由第一点光源和第二点光源的光线覆盖(X,Y)平面的交点，获得Z轴坐标，获得所述对位工具的位置坐标(X,Y,Z)。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述第一点光源设置在底板第一侧壁，所述第一线性图像传感器阵列设置与所述第一点光源相对的底板第三侧壁；所述第二点光源设置在底板第二侧壁，所述第二线性图像传感器阵列设置与所述第二点光源相对的底板第四侧壁；所述第一点光源与所述第一线性图像传感器阵列连成的直线与所述第二点光源与所述第二线性图像传感器阵列连成的直线垂直相交。

8.一种工具对位装置，应用于权利要求1至5中任一项所述的工具对位方法，或应用于权利要求6至7中任一项所述的工具对位方法，其特征在于，包括：底板、控制单元、第一点光源、第二点光源、第一线性图像传感器、第二线性图像传感器；其中：

所述底板第一侧壁设置所述第一点光源，相对第三侧壁设置所述第一线性图像传感器；

所述底板第二侧壁设置所述第二点光源，相对第四侧壁设置所述第二线性图像传感器；

所述控制单元设置在所述底板上，用于接收所述对位工具通过所述第一点光源与所述第一线性图像传感器阵列配合以及所述第二点光源与所述第二线性图像传感器阵列配合时的成像坐标后经处理得到位置坐标。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述第一点光源与所述第一线性图像传感器阵列连成的直线与所述第二点光源与所述第二线性图像传感器阵列连成的直线垂直相交。

10.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述第一线性图像传感器阵列和所述第二线性图像传感器阵列分别由多个图像传感器按线性排列组成，且成垂直角度分别设置在所述底板的第三侧壁和第四侧壁。