[发明专利]横波斜探头反衍变探伤法有效

专利信息
申请号: 201810860988.7 申请日: 2018-08-01
公开(公告)号: CN109142546B 公开(公告)日: 2020-03-10
发明(设计)人: 曲世发 申请(专利权)人: 大连天亿软件有限公司
主分类号: G01N29/44 分类号: G01N29/44
代理公司: 大连东方专利代理有限责任公司 21212 代理人: 王志强;李洪福
地址: 116000 辽宁省大连市甘*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 横波斜 探头 衍变 探伤
【权利要求书】:

1.一种横波斜探头反衍变探伤法,其特征在于,包括以下步骤:

—超声横波传播时,遇到缺陷后能产生反射波、衍射波和变型波;通过对这些波的综合分析,通过反射特性的反射波和衍射特性的衍射波,得到了缺欠的有无,通过变型特性的变型波,即在缺欠端点产生的变型表面波,通过表面波在缺欠表面传播得到了缺欠的形状、尺寸,通过缺欠产生的变型表面波、变型横波、变型纵波与发射横波之间走的路径组合,揭示了荧屏内所有波产生的成因,得到了确定缺欠的角度或方向的依据,对缺陷进行精准的定位、定量和定性,实现将缺欠真实形状立体呈现;

—在超声波探伤过程中,首先在一侧一次波探伤,当遇到缺陷时,将会出现缺陷波形A,所述缺陷波形A至少包括反射波、衍射波和变型波中的一种或几种;当采用二次波探伤,当遇到缺陷时,将会出现缺陷波形B,所述缺陷波形B至少包括反射波、衍射波和变型波中的一种或几种;

—其次,在另一侧一次波探伤,当遇到缺陷时,将会出现缺陷波形C,所述缺陷波形C至少包括反射波、衍射波和变型波中的一种或几种;当采用二次波探伤,当遇到缺陷时,将会出现缺陷波形D,所述缺陷波形D至少包括反射波、衍射波和变型波中的一种或几种;

—当缺陷波形A和缺陷波形B,或缺陷波形C和缺陷波形D完全相同,则缺陷单侧上下对称;当缺陷波形A和缺陷波形C,或缺陷波形B和缺陷波形D完全相同,则缺陷双侧左右对称;

—利用焊缝两侧的超声一次波、二次波或更多次波的组合探伤,把缺陷产生的反射波、衍射波和变型波结合在一起,形成横波斜探头反衍变探伤法,有的缺欠在一侧一次波探伤时,通过缺欠反衍变波的出现就能准确地定位、定量和定性,有的缺欠是在一侧二次波探伤时,通过缺欠反衍变波的出现就能准确地定位、定量和定性,同理有的缺欠是在另一侧一次波探伤时,通过缺欠反衍变波的出现就能准确地定位、定量和定性,或者是二次波探伤时,通过缺欠反衍变波的出现就能准确地定位、定量和定性,每一次的探伤结果又能够相互验证,具体包括以下步骤:

S1、探伤灵敏度的确定:反衍变探伤法的灵敏度,是以现有的Φ3mm横通孔灵敏度为准,再做10dB以上的提高,高到不影响探伤为准;或者以Φ0.5mm横通孔做为起始灵敏度;也能够根据设计要求允许的最小缺欠确定灵敏度,不同的产品,对缺欠的类型和大小要求不同,所以灵敏度也不同;

灵敏度的确定是以发现最小缺欠为准,缺欠发现后判断缺欠不以灵敏度为准,而是以缺欠的反衍变波为准,当缺欠反射波较低时,要提高灵敏度,当缺欠只有一个反射波出现时,要通过提高灵敏度使缺欠的反衍变波同时出现,当缺欠的反衍变波较高影响判断时,要降低灵敏度,达到不影响判断为准;

S2、探头角度的确定:反衍变探伤法,选取探头角度与焊缝坡口角度无关,与板材厚薄无关,与发现和判断缺陷的能力有关,探头角度只选一个,即45°横波斜探头,45°探头探伤对于检测部位如有未透声区,其它角度探头都是用来弥补或做辅助探伤;

S3、缺陷的类型以及尺寸的确定:所述缺陷为平面形缺陷与探测面平行、平面形缺陷与探测面垂直、平面形缺陷从垂直探测面向探头侧倾斜、平面形缺陷从垂直探测面向探头侧反方向倾斜、球形气孔探伤、横通孔探伤、平底孔探伤、半圆形缺陷探伤、三角形缺欠、四边形缺欠和六边形缺欠探伤构成;

S4、缺陷的测长:应用6dB法和端点15°-45°转动反衍变法测长;

当缺陷需要侧长时,首先看其缺陷长度方向是否规则,

若到端点反衍变波都相同,则应用6dB法侧长,

若到端点反衍变波不同,则应用6dB法测出端点,然后将探头倾斜15°-45°,对准不同的端点移动探头,找出端点反衍变波,分别在焊缝的两侧进行,以测得的最长点为准;

S5、缺陷的定位:缺陷的尺寸、形状确定了以后,缺陷就能够较准确的进行上下左右定位;

S6、缺陷的定性:缺陷形状和位置确定以后,缺陷同时就能够定性。

2.根据权利要求1所述的横波斜探头反衍变探伤法,其特征在于:

除缺陷产生反衍变波外,焊缝焊角产生的反射波和变型波用来评定焊缝成型的好坏,以及焊缝表面和近表面有无缺欠的存在,当量法认为焊角反射波前出现的反射波定为缺陷反射波,焊角反射波后出现的波不予考虑,由于焊角产生的反射波和变型波及多次反射波都是有规律的,横波斜探头反衍变探伤法认为在焊角反射波后面出现的波如果不符合规律按缺陷分析,及扫描线上出现的所有波都要分析。

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