[发明专利]一种具有双纵向场板的分离栅槽型功率器件在审
申请号: | 201810863748.2 | 申请日: | 2018-08-01 |
公开(公告)号: | CN109192778A | 公开(公告)日: | 2019-01-11 |
发明(设计)人: | 吴丽娟;黄也;朱琳;雷冰;吴怡清;张银艳 | 申请(专利权)人: | 长沙理工大学 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/423;H01L29/40;H01L29/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 410114 湖南省*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 纵向场 栅漏电荷 分离栅 调制器件 功率器件 击穿电压 介质槽 漂移区 槽型 引入 体内 功率半导体技术 器件击穿电压 比导通电阻 电场 导通电阻 电场分布 降低器件 栅氧化层 体电场 减小 漏极 耐压 栅漏 耗尽 优化 | ||
1.一种具有双纵向场板的分离栅槽型功率器件,其特征在于:其元胞结构包括第二掺杂类型衬底(1)、SiO2埋氧层(21)、第一掺杂类型漂移区(31)、介质槽区(22)、第二掺杂类型条(43)、第二掺杂类型阱区(42)、第一掺杂类型源端重掺杂区(32)、第二掺杂类型源端重掺杂区(41)、第一掺杂类型漏端重掺杂区(33)、浅槽栅接触电极(51)、源极接触电极(52)、漏极接触电极(53)、栅极浮空场板(54)、源场板(55)、漏场板(56),栅氧化槽(23)、栅源间覆盖介质层(24)、源漏间覆盖介质层(25);所述第二掺杂类型衬底(1)上表面设置有SiO2埋氧层(21);所述SiO2埋氧层(21)上端面设置有第一掺杂类型漂移区(31);所述第一掺杂类型漂移区(31)中设置有介质槽区(22)、第二掺杂类型条(43)和栅氧化槽(23);所述介质槽区(22)内部左侧置有源场板(55),右侧置有漏场板(56);所述源场板(55)左侧不与介质槽区(22)边缘邻接,漏场板(56)右侧不与介质槽区(22)边缘邻接;所述漏场板(56)右部设置有第二掺杂类型条(43);所述第二掺杂类型条(43)左边缘与介质槽区(22)边缘接触且平齐;所述第二掺杂类型条(43)上方与第一掺杂类型漏端重掺杂区(33)相连;所述第一掺杂类型漏端重掺杂区(33)上端面邻接漏极接触电极(53);所述漏极接触电极(53)与源极接触电极(52)通过表面覆盖氧化层(25)相隔离,且所述表面覆盖氧化层(25)在介质槽区(22)上端面上方,所述源极接触电极(52)下端面置有第二掺杂类型阱区(42),所述第二掺杂类型阱区(42)内部中包括相互独立的第一掺杂类型源端重掺杂区(32)和第二掺杂类型源端重掺杂区(41);所述第二掺杂类型阱区(42)左侧设置有栅氧化槽(23);所述栅氧化槽(23)内部设置有浅槽栅接触电极(51)和栅极浮空场板(54)。所述浅槽栅接触电极(51)与源极接触电极(52)通过表面覆盖氧化层(24)相隔离。
2.根据权利要求1所述的一种具有双纵向场板的分离栅槽型功率器件,其特征在于:所述器件是SOI器件,对于SOI器件来说衬底为第二类型硅。
3.根据权利要求1所述的一种具有双纵向场板的分离栅槽型功率器件,其特征在于:所述漏极接触电极(53)左侧下方邻接漏场板(56),所述源极接触电极(52)右侧下方邻接源场板(55)。
4.根据权利要求1所述的一种具有双纵向场板的分离栅槽型功率器件,其特征在于:所述结构中的浅槽栅接触电极(51)、栅极浮空场板(54)和栅氧化槽(23)为分离栅结构。
5.根据权利要求1所述的一种具有双纵向场板的分离栅槽型功率器件,其特征在于:所述第二掺杂类型条(43)在第一掺杂类型漏端重掺杂区(33)下端相连。
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