[发明专利]用于对插塞器连接部的密封进行检查的方法以及插塞器连接部有效
申请号: | 201810870146.X | 申请日: | 2018-08-02 |
公开(公告)号: | CN109390767B | 公开(公告)日: | 2020-10-16 |
发明(设计)人: | 亚历山大·施滕策尔 | 申请(专利权)人: | 莱尼电气系统有限公司 |
主分类号: | H01R13/502 | 分类号: | H01R13/502;H01R13/52;H01R13/627;H01R24/00;G01M3/04 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 李骥;车文 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 插塞器 连接 密封 进行 检查 方法 以及 | ||
1.一种用于对插塞器连接部(2)的所要测试的内部空间(12)的密封进行检查的方法,所述插塞器连接部具有两个插塞连接部元件,即,插塞器元件(4)与对应插塞器元件(6),所述插塞器元件与所述对应插塞器元件沿插塞方向(S)彼此嵌套,其中一个插塞连接部元件(4、6)具有通向内部空间(12)的测试开口(18),经由所述测试开口向所述内部空间(12)加载以测试介质用以检查密封,并且随后朝向所述内部空间(12)地密封所述测试开口(18),其特征在于,
设置有密封元件,沿插塞方向(S)观察,所述密封元件在测试位置(P)中布置在所述测试开口(18)之前,而在最终嵌合的位置(E)中布置在所述测试开口(18)之后,
其中,为了使所述测试开口(18)相对所述内部空间(12)密封,将密封元件(22a、22b)沿插塞方向(S)由测试位置(P)推移超过所述测试开口(18)地在最终嵌合的位置(E)中到达密封位置中,从而在所述测试开口(18)与所述内部空间(12)之间的先前存在的流动连接被所述密封元件(22a、22b)中断,第一密封元件(22a)在测试位置(P)上密封测试开口(18)之后内部空间(12),在最终嵌合的位置(E)上相对于测试开口(18)密封内部空间(12)。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,
所述插塞器连接部(2)具有在对所述插塞器连接部(2)进行嵌合时沿插塞方向(S)移动的构件,其中,所述密封元件(22a、22b)自动地与所述构件一起移动。
3.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,
所述插塞器元件(4)具有测试开口(18),并且为了检查所述内部空间(12),将所述插塞器元件(4)插塞到所述对应插塞器元件(6)中并达到测试位置(P),并且紧接着转移到最终嵌合的位置(E)中用以密封所述测试开口(18)。
4.根据权利要求3所述的方法,其中,
所述第一密封元件(22a)布置在所述插塞器元件(4)与所述对应插塞器元件(6)之间,从而通过所述第一密封元件(22a)密封所述内部空间(12)。
5.根据权利要求1至2中任一项所述的方法,其中,
为了构成所述插塞器连接部(2),所述插塞器元件(4)被所述对应插塞器元件(6)包围,并且第二密封元件(22b)构造为环形密封件。
6.根据权利要求1至2中任一项所述的方法,其中,
所述插塞器元件(4)具有卡锁凸鼻(14),并且所述对应插塞器元件(6)具有卡锁留空部(16),从而在最终嵌合的位置(E)中,所述卡锁凸鼻(14)锁止在所述卡锁留空部(16)中。
7.根据权利要求6所述的方法,其中,
沿插塞方向(S)观察,所述测试开口(18)布置在所述卡锁凸鼻(14)之后,从而所述卡锁留空部(16)在测试位置(P)中布置在所述测试开口(18)之上。
8.根据权利要求1至2中任一项所述的方法,其中,
具有测试开口(18)的插塞连接部元件具有带有穿引部(10)的联接管套(24),在嵌合的状态下,线路(8)穿过所述穿引部地导入到所述内部空间(12)中,并且其中,所述测试开口(18)构造在所述联接管套(24)中。
9.根据权利要求8所述的方法,其中,
在联接管套(24)与线路(8)之间布置有第二密封元件(22b),并且所述密封元件移动超过测试开口(18)。
10.根据权利要求9所述的方法,其中,
插塞器连接部(2)还具有保持元件(26),将所述保持元件推移到联接管套(24)上,其中,在推移时自动地一同移动所述第二密封元件(22b)。
11.根据权利要求1至2中任一项所述的方法,其中,
所述测试介质是压缩空气。
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