[发明专利]FD-SOI器件校正电路及其方法在审

专利信息
申请号: 201810874429.1 申请日: 2018-08-02
公开(公告)号: CN110798197A 公开(公告)日: 2020-02-14
发明(设计)人: 吴晓雷;郭胤;周海天 申请(专利权)人: 恩智浦美国有限公司
主分类号: H03K19/003 分类号: H03K19/003
代理公司: 11021 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 杨静
地址: 美国德*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 参考电压 相位检测器 偏置电压 电压调节器 电压发生器 环形振荡器 输出信号 振荡信号 晶体管 偏置 校正电路 输入端 体偏置 相位差
【权利要求书】:

1.一种用于体偏置的校正电路,其特征在于,包括:

相位检测器,具有配置为从环形振荡器接收振荡信号的输入端,相位检测器配置为提供表示振荡信号和参考信号之间的相位差的输出信号;

第一电压发生器,配置为使用相位检测器的输出信号而产生第一参考电压;

第一电压调节器,接收第一参考电压并使用第一参考电压而产生第一经调节电压,以作为第一偏置电压;

第二电压发生器,配置为使用第一参考电压而产生第二参考电压;

第二电压调节器,接收第二参考电压并使用第二参考电压而产生第二经调节电压,以作为第二偏置电压。

2.根据权利要求1所述的校正电路,其特征在于:相位检测器包括第一输出端和第二输出端,其中:

第一输出端的第一输出信号表示振荡信号的频率高于参考信号的频率;以及

第二输出端的第二输出信号表示振荡信号的频率低于参考信号的频率。

3.根据权利要求1所述的校正电路,其特征在于:进一步包括补偿电路,耦接在第一电压发生器和第一电压调节器之间。

4.根据权利要求3所述的校正电路,其特征在于,补偿电路包括:

第一晶体管,与供电电压相耦接;

第二晶体管,与供电电压相耦接;

第三晶体管,耦接在第一晶体管与地之间;

第四晶体管,耦接在第二晶体管与地之间;以及

电容器,耦接在第一、第三晶体管之间的节点和第二、第四晶体管之间的节点之间。

5.根据权利要求4所述的校正电路,其特征在于:第一晶体管、第二晶体管耦接为电流源。

6.一种校正环形振荡器的体偏置的方法,其特征在于:环形振荡器包括多个晶体管,该方法包括:

由相位检测器检测环形振荡器的振荡信号与参考信号之间的相位差,并提供表示相位差的相位检测器输出信号;

由第一电压发生器使用相位检测器输出信号而产生第一参考电压;

由第一电压调节器使用第一参考电压而产生第一经调节电压以作为第一偏置电压;

由第二电压发生器使用第一参考电压而产生第二参考电压;

由第二电压调节器使用第二参考电压而产生第二经调节电压以作为第二偏置电压。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,检测相位差并提供相位检测器输出信号包括:

在相位检测器的第一输出端提供第一输出信号,其表示振荡信号的频率高于参考信号的频率;以及

在相位检测器的第二输出端提供第二输出信号,其表示振荡信号的频率低于参考信号的频率。

8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,进一步包括:在第一电压发生器和第一电压调节器之间耦接补偿电路。

9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,耦接补偿电路包括:

将第一晶体管与供电电压相耦接;

将第二晶体管与供电电压相耦接;

将第三晶体管耦接在第一晶体管与地之间;

将第四晶体管耦接在第二晶体管与地之间;以及

将电容器耦接在第一、第三晶体管之间的节点和第二、第四晶体管之间的节点之间。

10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,进一步包括:将第一晶体管、第二晶体管耦接为电流源。

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