[发明专利]一种预测LED灯珠光衰的方法

说明书

本发明涉及一种预测LED灯珠光衰的方法，该方法通过封装支架上负极的氧化面积随老化时间的变化趋势来预测整个LED灯珠的光衰，可以在较短的老化时间内比较准确的预测出长时间光衰。

技术领域

本发明涉及LED照明领域，具体是涉及一种预测LED灯珠光衰的方法。

背景技术

现有评判LED质量的方法多种多样，如“冷热冲击”、“高温高湿”等等，但最主要的还是以北美照明协会(IESNA)推出的IES TM-21-11标准来对灯珠的光衰进行评判，该方法采用最小二乘法将IES LM-80-08测试收集到的数据(即LM-80测试数据)进行e指数曲线拟合，并将拟合出的曲线外延至70％流明维持率处以获得被测产品的光通量维持寿命。该方法还是先要测试出LM-80的数据，由于封装技术和芯片技术的发展，灯珠的光衰达到原有的80％需要非常长的时间(3000～6000小时以上)，因此还是无法快速的对灯珠的光衰进行预测。

随着现在的灯珠质量不断提高，工艺及材料不断提升，如，蓝光芯片工艺的成熟，内部晶格缺陷逐渐减少、荧光粉采用热稳定性更好的材料(例如硅酸盐等)，因此由芯片和荧光粉所带来的光衰几乎可以忽略。现有的SMD灯珠产生光衰的主要因素是由于封装胶与封装支架之间的热膨胀系数不同，由于胶体热胀冷缩，胶体与封装支架容易发生剥离，导致灯珠的气密性变差，碗杯内金属支架的镀银层逐渐被入侵的空气氧化导致的光衰。

发明内容

本发明旨在提供一种预测LED灯珠光衰的方法，以解决现有预测LED灯珠光衰需要长时间老化测试的问题。

具体方案如下：

一种预测LED灯珠光衰的方法，包括以下步骤：

Sa、将待测LED灯珠贴设在导热基板上，LED灯珠为SMD类型的LED灯珠；

Sb、将完成步骤Sa的LED灯珠的导热基板控制在温度T1，用恒流源驱动点亮，进行老化；

Sc、在不超过1000小时的老化时间内选取至少四个时间点t1、t2、t3，……，相邻两个时间点之间的间隔不小于100小时，通过显微镜观测LED灯珠在对应时间点上封装支架的碗杯内电极的氧化面积S1、S2、S3，……；

Sd、根据步骤Sc的电极的氧化面积的占比以及时间点拟合出一元二次函数曲线，其中以时间点为横轴，电极的氧化面积的占比为纵轴，该一元二次函数曲线表示为y＝ax2+bx+c，其中a、b、c均为常数；

Se、根据步骤Sd拟合出的一元二次函数曲线预测LED灯珠在其它时间点上的光衰。

进一步的，上述步骤Sc中碗杯内电极的氧化面积在每个时间点都具有多组数据，步骤Sd中通过最小二乘法将步骤Sc中的多组数据拟合出一元二次函数曲线。

进一步的，在步骤Sc中选取三个时间点，其中t1＝200小时，t2＝500小时，t3＝800小时，t4＝1000小时。

进一步的，所述温度T1为100～120℃。

本发明提供的预测LED灯珠光衰的方法与现有技术相比较具有以下优点：本发明提供的方法通过测量封装支架碗杯内金属电极的氧化面积来预测整个灯珠的光衰，需要老化的时间短，且预测结果准确。

附图说明

图1示出了LED灯珠的示意图。

图2示出了实验1中负极实际氧化面积占比与实际光衰随时间的变化趋势曲线图。

图3示出了实验1中由1000小时内的负极实际氧化面积占比数据拟合出的负极氧化面积占比随时间的变化趋势曲线图。

图4示出了实验1中负极实际氧化面积占比、负极预测氧化面积占比和实际光衰随时间的变化趋势曲线图。