[发明专利]无需光刻步骤的肖特基芯片制造方法及肖特基芯片在审
申请号: | 201810876774.9 | 申请日: | 2018-08-03 |
公开(公告)号: | CN108766884A | 公开(公告)日: | 2018-11-06 |
发明(设计)人: | 薛涛;关仕汉 | 申请(专利权)人: | 淄博汉林半导体有限公司 |
主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329;H01L29/06;H01L29/872 |
代理公司: | 淄博佳和专利代理事务所 37223 | 代理人: | 孙爱华 |
地址: | 255086 山东省淄博市高*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 肖特基 光刻 芯片 芯片制造 绝缘材料 外延层 去除 半导体制造技术 填充绝缘材料 芯片制造过程 耐压性能 切割线 热氧化 耐压 省略 切割 | ||
1.无需光刻步骤的肖特基芯片制造方法,其特征在于:包括如下步骤:
步骤a,在衬底(6)的上方形成外延层(5);
步骤b,在外延层(5)表面两侧分别至少划出一个耐压环沟槽(2);
步骤c,进行热氧化,在外延层(5)的表面以及耐压环沟槽(2)的侧壁上形成绝缘物;
步骤d,在外延层(5)的表面以及耐压环沟槽(2)内部填充绝缘材料(1);
步骤e,将外延层(5)表面的绝缘材料(1)去除;
步骤f,在外延层(5)表面形成肖特基界面(3);
步骤g,将形成于绝缘材料(1)表面的肖特基界面(3)去除;
步骤h,在耐压环沟槽(2)中心位置或两个耐压环沟槽(2)对肖特基芯片进形切割。
2.根据权利要求1所述的无需光刻步骤的肖特基芯片制造方法,其特征在于:在完成所述步骤g之后,在所述肖特基界面(3)上方和衬底(6)下方分别形成阳极金属层(4)和阴极金属层(8)。
3.根据权利要求1所述的无需光刻步骤的肖特基芯片制造方法,其特征在于:所述的耐压环沟槽(2)在外延层(5)表面两侧分别设置有一个,在耐压环沟槽(2)的中部进行切割。
4.根据权利要求1所述的无需光刻步骤的肖特基芯片制造方法,其特征在于:所述的耐压环沟槽(2)在外延层(5)表面两侧分别设置有两个,在两个耐压环沟槽(2)之间进行切割。
5.一种肖特基芯片,包括衬底(6)以及位于衬底(6)上方的外延层(5),在外延层(5)的表面设置有肖特基界面(3),其特征在于:在外延层(5)的外侧设置有至少一组耐压环,耐压环包括耐压环沟槽(2)和填充在耐压环沟槽(2)内的绝缘材料(1),所述的肖特基界面(3)位于耐压环的内侧。
6.根据权利要求5所述的肖特基芯片,其特征在于:所述的耐压环沟槽(2)的截面为“L”状,耐压环沟槽(2)自外延层(5)的上表面向下延伸,穿过外延层(5)后继续向下进入衬底(6)中,然后向外侧垂直弯曲延伸至衬底(6)的外侧。
7.根据权利要求5所述的肖特基芯片,其特征在于:所述的耐压环沟槽(2)的截面为“U”状,耐压环沟槽(2)的侧壁和底面垂直设置。
8.根据权利要求5所述的肖特基芯片,其特征在于:在所述的耐压环沟槽(2)的内壁上设置有沟槽内壁绝缘层(7)。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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