[发明专利]一种LED陶瓷基板检测装置在审
| 申请号： | 201810883526.7 | 申请日： | 2018-08-06 |
| 公开（公告）号： | CN109003923A | 公开（公告）日： | 2018-12-14 |
| 发明（设计）人： | 陈双林 | 申请（专利权）人： | 南京中跃信息科技有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/67 | 分类号： | H01L21/67 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 210000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 推杆 固定底座 检测装置 电机 电源线 收件箱 凹槽位置 水平设置 左侧边 滑落 提手 显示屏 稳固 检测 贯穿 | ||
【权利要求书】：
1.一种LED陶瓷基板检测装置，包括固定底座（1）、推杆（2）、电机（3）、检测装置（4）、电源线（5）、收件箱（6）和显示屏（7），其特征在于：所述推杆（2）的下方设置有固定底座（1），所述固定底座（1）上设置有电机（3），所述电机（3）通过电源线和检测装置（4）连接，所述电机（3）的左侧边设置有收件箱（6），所述检测装置（4）和电源线（5）水平设置，所述推杆（2）上设置有提手（9）。
2.根据权利要求1所述的一种LED陶瓷基板检测装置，其特征在于：所述收件箱（6）上设置有显示屏（7）。
3.根据权利要求1所述的一种LED陶瓷基板检测装置，其特征在于：所述固定底座（1）和推杆（2）通过螺丝连接。
4.根据权利要求1所述的一种LED陶瓷基板检测装置，其特征在于：所述推杆（2）贯穿固定底座（1）。
5.根据权利要求1所述的一种LED陶瓷基板检测装置，其特征在于：所述推杆（2）上设置有凹槽（10）。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
