[发明专利]RFID仿真用例实现方法及装置

说明书

一种RFID仿真用例实现方法及装置，其中的方法包括：执行基本指令组操作，用以完成对芯片状态、解码速率等基本功能的针对性仿真；执行For循环扫描操作，用以完成基于RFID芯片支持指令的控制域扫描及数据域的典型数据点扫描；执行指令组合及关键流程操作，用以完成对芯片各指令组合及关键场景、流程进行仿真；执行异常指令及时序操作，用以完成对芯片异常指令及异常接口时序的仿真工作；执行随机测试，用以完成对芯片的压力测试，通过大数据量及随机化测试，完成对原有用例的补充。本发明使用层次化用例设计进行仿真操作，通过仿真用例层次化设计，对芯片进行有优先级的仿真验证工作，实现问题的快速爆发及准确定位。

技术领域

本发明涉及射频识别(RFID，Radio Frequency Identification)技术领域，尤其涉及一种RFID仿真用例实现方法及装置。

背景技术

RFID是一种非接触式自动识别技术：读写器利用射频信号自动识别电子标签，并与电子标签进行信息交换。目前，RFID技术是物联网的关键技术之一，具有广泛的应用前景。

RFID芯片在设计阶段及完成设计后，均要做大量的验证工作，以确保芯片的工作稳定性和可靠性，避免芯片在运行期间出现问题。因此，人们期望采用合适的方法及装置，能够保证芯片的正确性、完备性与安全性。

发明内容

根据本发明的一个方面，提供一种RFID仿真用例实现方法，包括以下步骤：

(a)执行基本指令组操作，用以完成对芯片状态、解码速率等基本功能的针对性仿真；

(b)执行循环扫描操作，用以完成基于RFID芯片支持指令的控制域扫描及数据域的典型数据点扫描；

(c)执行指令组合及关键流程操作，用以完成对芯片各指令组合及关键场景、流程进行仿真；

(d)执行异常指令及时序操作，用以完成对芯片异常指令及异常接口时序的仿真工作；

(e)执行随机指令测试，用以完成对芯片的压力测试。

所述的方法，还包括通过功能覆盖率模型及代码覆盖率分析完成闭环验证的步骤。

所述的方法，通过所述步骤(a)制定出符合RFID芯片测试要求的典型仿真用例，所述用例具有对芯片状态、接收、发射等基本功能的针对性。

所述的方法，通过所述步骤(b)完成基于RFID芯片支持指令的参数域扫描、状态机跳转及数据域的典型数据点扫描，并在初步仿真并保证指令通路仿真完成后，实现指令完备性验证，所述数据域包括数据最大最小边界值及中间值，所述典型数据包括控制域全部参数遍历，所述循环扫描为For循环扫描。

所述的方法，所述步骤(c)通过指令间的组合测试，发现指令相关性问题，所述关键场景包括芯片初始化的各种配置内容。

所述的方法，通过所述步骤(d)芯片能够正常处理由模拟前端电路(AFE)收到的异常时序及读卡器发出的异常指令。

所述的方法，所述步骤(e)对指令间跳转无要求，且伴随芯片的整个仿真周期，所述随机指令测试包括对指令的控制域及数据域施加随机数据，以及各指令间的随机组合，形成指令组下发。

根据本发明的另一方面，提供一种RFID仿真用例实现装置，包括

基本指令组模块，用以完成芯片基本指令流用例制定及操作，制定出符合RFID芯片测试要求的典型仿真用例；

循环扫描模块，用以完成芯片各指令参数域典型值遍历操作，完成基于RFID芯片支持指令的参数域扫描、状态机跳转及数据域的典型数据点扫描；

指令组合及关键流程模块，用以完成芯片指令间组合测试操作，完成对芯片各指令组合及关键场景、流程进行仿真；