[发明专利]一种杂散电流腐蚀形貌原位观察实验装置

权利要求书

1.一种杂散电流腐蚀形貌原位观察实验装置，其特征在于：包括容器、电极支架、样品固定架、辅助电极、杂散电流干扰电源和显微镜，所述电极支架设置于所述容器中且能够从所述容器中取出，所述样品固定架与所述电极支架可拆卸连接，所述样品固定架用于固定金属样品，所述电极支架上相对于所述金属样品对称设有至少两个所述辅助电极，所述辅助电极和所述金属样品分别连接所述杂散电流干扰电源的一极，所述容器用于盛装透明腐蚀介质，所述电极支架上开设有观察孔，所述显微镜设置于所述观察孔的上方，所述显微镜的物镜透过所述观察孔能够观察到所述金属样品，所述辅助电极的下端低于所述金属样品的上表面且与所述金属样品不接触。

2.根据权利要求1所述的杂散电流腐蚀形貌原位观察实验装置，其特征在于：还包括隔振平台，所述隔振平台设置于所述容器下侧。

3.根据权利要求1所述的杂散电流腐蚀形貌原位观察实验装置，其特征在于：还包括相机，所述相机与所述显微镜的目镜相连接。

4.根据权利要求1所述的杂散电流腐蚀形貌原位观察实验装置，其特征在于：所述电极支架包括上盖板、立柱和下盖板，所述上盖板通过所述立柱与所述下盖板连接，所述样品固定架与所述下盖板可拆卸连接，所述辅助电极与所述上盖板可拆卸连接。

5.根据权利要求1所述的杂散电流腐蚀形貌原位观察实验装置，其特征在于：所述样品固定架的上平面上设有凹槽，所述金属样品水平置于所述凹槽中。

6.根据权利要求1所述的杂散电流腐蚀形貌原位观察实验装置，其特征在于：所述透明腐蚀介质的液面高于所述金属样品和所述辅助电极的下端。

7.根据权利要求1所述的杂散电流腐蚀形貌原位观察实验装置，其特征在于：所述杂散电流干扰电源通过耐腐蚀导线与所述金属样品的一侧以及所述辅助电极的上端连接。