[发明专利]电化学腐蚀发展过程原位显微图像扫描采集平台及方法

权利要求书

1.电化学腐蚀发展过程原位显微图像扫描采集平台，其特征在于：包括隔振平台，所述隔振平台上设有三维电动滑台，所述三维电动滑台的三个步进电机均连接一三通道步进电机控制器，所述三通道步进电机控制器与计算机电连接；所述三维电动滑台的顶部通过万向显微镜支架连接有显微镜，所述显微镜的物镜朝下，所述显微镜的目镜连接有相机，所述相机与所述计算机电连接；

所述隔振平台上设有杂散电流腐蚀形貌原位观察实验装置，所述杂散电流腐蚀形貌原位观察实验装置包括容器、电极支架、样品固定架、辅助电极和杂散电流干扰电源，所述电极支架设置于所述容器中且能够从所述容器中取出，所述样品固定架与所述电极支架可拆卸连接，所述样品固定架用于固定金属试片，所述电极支架上相对于所述金属试片对称设有至少两个所述辅助电极，所述辅助电极和所述金属试片分别连接所述杂散电流干扰电源的一极，所述容器中盛装有透明腐蚀介质，所述电极支架上开设有观察孔，所述显微镜的物镜透过所述观察孔能够观察到所述金属试片；

所述电极支架包括上盖板、立柱和下盖板，所述上盖板通过所述立柱与所述下盖板连接，所述样品固定架与所述下盖板可拆卸连接，所述辅助电极与所述上盖板可拆卸连接，所述观察孔开设在所述上盖板上；

所述万向显微镜支架的一侧连接有一激光定位器，所述激光定位器发射出的激光能够照射到进行电化学腐蚀实验的金属试片上，形成激光标记点；

所述三维电动滑台包括从下至上依次设置的X轴滑台、Y轴滑台和Z轴滑台，所述万向显微镜支架设置在所述Z轴滑台上。

2.根据权利要求1所述的电化学腐蚀发展过程原位显微图像扫描采集平台，其特征在于：所述三维电动滑台的顶部设有若干个光源，所述光源朝下设置。

3.根据权利要求1所述的电化学腐蚀发展过程原位显微图像扫描采集平台，其特征在于：所述三通道步进电机控制器和所述相机分别通过一USB接口与所述计算机电连接。

4.电化学腐蚀发展过程原位显微图像扫描采集方法，其特征在于，使用权利要求1~3中任一项所述的电化学腐蚀发展过程原位显微图像扫描采集平台，包括以下步骤：

S1：将杂散电流腐蚀形貌原位观察实验装置组装好并放置在隔振平台上；

S2：调节万向显微镜支架的角度使显微镜对准金属试片方向；

S3：打开激光定位器，通过计算机调节三维电动滑台，借助激光标记点使显微镜的物镜正对金属试片的上的目标点，同时在计算机屏幕上清晰成像；

S4：关闭激光定位器，打开光源；

S5：通过计算机设置扫描参数、相机捕捉时间间隔、捕捉时长，并设置好电化学腐蚀实验参数，打开杂散电流干扰电源，同时开始采集图像；

S6：通过计算机控制三维电动滑台动作，带动显微镜沿X轴和/或Y轴移动，扫描金属试片上不同区域的显微腐蚀形貌。

5.根据权利要求4所述的电化学腐蚀发展过程原位显微图像扫描采集方法，其特征在于：通过计算机控制三维电动滑台动作，使显微镜进行坐标点扫描和/或序列扫描。