[发明专利]一种引入工况信息的电路故障诊断扩展决策树构建方法有效
申请号: | 201810892066.4 | 申请日: | 2018-08-07 |
公开(公告)号: | CN108957297B | 公开(公告)日: | 2020-05-19 |
发明(设计)人: | 石君友;牛南坡;祝献捷;侯一蕾 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京永创新实专利事务所 11121 | 代理人: | 祗志洁 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 引入 工况 信息 电路 故障诊断 扩展 决策树 构建 方法 | ||
1.一种引入工况信息的电路故障诊断扩展决策树构建方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤一,确定被测电路的测试点、工况组成和电路状态种类;
设被测电路有n个测试点,有m个工况,有p种故障状态,加上健康状态,则被测电路共有(p+1)种电路状态;n、m、p均为正整数;
步骤二,根据电路历史运行数据或者仿真数据,获取被测电路在各电路状态和各电路工况下的电路测试点数据集;
将每个工况用唯一的m位的二进制序列编码,二进制序列中只有一位是1,其他位都是0;设获得测试数据集D'如下:
D'={(x11,y1),(x12,y1),…,(x1n,y1),(x1(n+1),y1),…,(x1(n+m),y1),(x21,y2),(x22,y2),…,(x2n,y2),(x2(n+1),y2),…,(x2(n+m),y2),…,(xd(n+m),yd)}
其中,d为样本个数,xin表示第i个样本中测试点Tn所测得的数据值,yi表示采集第i个样本时的电路状态,xi(n+1),…,xi(n+m)表示采集第i个样本时的电路工况,为二进制序列;
步骤三,以数据集D'为训练样本构建扩展决策树;
利用分类回归树法,以数据集D'中的n个测试点T1,T2,…Tn和m位工况编码A1,A2,…,Am为属性,以电路状态S0,S1……Sp为所属类别,构建扩展决策树;
步骤四,采集被测电路测试点数据,将测试点数据和工况编码依据扩展决策树,诊断电路状态。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述的步骤二中,获取被测电路在不同状态和不同工况组合下的测试点数据;对于每个状态与工况组合情况下,对每个测试点结果,都分别选取最大值和最小值情况作为样本数据。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述的步骤二中,将每个工况表示为一个m位的二进制序列,第k个工况Ok的二进制序列为
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述的步骤三中,在构建扩展决策树时,首先计算数据集D'的基尼值Gini(D');然后,计算各属性的基尼指数;
属性Tq(q=1,2,…,n)和Aj(j=1,2,…,m)的基尼指数Gini_index(D',Tq)、Gini_index(D',Aj)分别如下:
其中,V表示属性Tq或Aj的划分种类个数;D'v表示属性第v个分类的样本集,|D'v|和|D'|分别表示集合D'v和D'的样本个数;
选取其中最小的基尼指数对应的属性作为最优划分属性,作为扩展决策树的根节点;
从节点依据属性值将数据集划分为两支,对每支数据集进行重复属性划分工作,直到将数据集中的样本都划分到一种电路状态为止,扩展决策树构建完成。
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