[发明专利]一种温度检测采样电路在审

专利信息
申请号: 201810895437.4 申请日: 2018-08-08
公开(公告)号: CN108709646A 公开(公告)日: 2018-10-26
发明(设计)人: 周佳宁 申请(专利权)人: 上海艾为电子技术股份有限公司
主分类号: G01K1/00 分类号: G01K1/00;G01R1/44;H03F1/30
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 200233 上海市徐汇*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 温度参考电压 温度检测采样电路 温度采样 比较模块 采集模块 放大模块 缓冲模块 温度检测结果 放大处理 基准电压 输出目标 制作工艺 输出 去除
【权利要求书】:

1.一种温度检测采样电路,其特征在于,所述温度检测采样电路包括:温度参考电压采集模块、缓冲模块、放大模块和比较模块;

其中,所述温度参考电压采集模块用于输出第一路温度参考电压和第二路温度参考电压;

所述缓冲模块用于控制所述第一路温度参考电压的稳定性;

所述放大模块用于将所述第一路温度参考电压和所述第二路温度参考电压进行放大处理,并输出与所述第一路温度参考电压相关的温度采样电压;

所述比较模块用于依据所述温度采样电压和基准电压去除所述第一路温度参考电压,并输出目标温度采样电压。

2.根据权利要求1所述的温度检测采样电路,其特征在于,所述温度参考电压采集模块包括:第一电流源、第二电流源、第一三极管和第二三极管;

其中,所述第一电流源的一端与所述第一三极管的发射极连接,所述第一电流源的另一端与电压输入端连接;

所述第一三极管的基极与所述第一三极管的集电极连接后接地连接;

所述第二电流源的一端与所述第二三极管的发射极连接,所述第二电流源的另一端与所述电压输入端连接;

所述第二三极管的基极与所述第二三极管的集电极连接后接地连接。

3.根据权利要求2所述的温度检测采样电路,其特征在于,所述第二电流源发出的电流值为所述第一电流源发出的电流值的10倍。

4.根据权利要求2所述的温度检测采样电路,其特征在于,所述第一三极管的面积与所述第二三极管的面积相同。

5.根据权利要求2所述的温度检测采样电路,其特征在于,所述缓冲模块包括:第一运算放大器;

其中,所述第一运算放大器的同相输入端与所述第一三极管的发射极连接,所述第一运算放大器的反相输入端与所述第一运算放大器的输出端连接。

6.根据权利要求3所述的温度检测采样电路,其特征在于,所述放大模块包括:第二运算放大器、第一电阻和第二电阻;

其中,所述第二运算放大器的同相输入端与所述第二三极管的发射极连接,所述第二运算放大器的反相输入端与所述第一电阻的一端连接;

所述第一电阻的另一端与所述第一运算放大器的输出端连接;

所述第二电阻的一端与所述第二运算放大器的反相输入端连接,所述第二电阻的另一端与所述第二运算放大器的输出端连接;

所述第二运算放大器的输出端用于输出所述温度采样电压。

7.根据权利要求6所述的温度检测采样电路,其特征在于,所述第二电阻的阻值是所述第一电阻的阻值的11倍。

8.根据权利要求6所述的温度检测采样电路,其特征在于,所述比较模块包括:第三运算放大器、第三电阻、第四电阻、第五电阻和第六电阻;

其中,所述第三电阻的一端与所述第二运算放大器的输出端连接,所述第三电阻的另一端与所述第三运算放大器的同相输入端连接;

所述第四电阻的一端与所述第三运算放大器的同相输入端连接,所述第四电阻的另一端接地连接;

所述第五电阻的一端与所述基准电压的输入端连接,所述第五电阻的另一端与所述第三运算放大器的反相输入端连接;

所述第六电阻的一端与所述第三运算放大器的反相输入端连接,所述第六电阻的另一端与所述第三运算放大器的输出端连接;

所述第三运算放大器的输出端用于输出所述目标温度采样电压。

9.根据权利要求8所述的温度检测采样电路,其特征在于,所述三电阻的阻值、所述第四电阻的阻值、所述第五电阻的阻值以及所述第六电阻的阻值相同。

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