[发明专利]一种涡旋光束拓扑荷数的检测方法有效
| 申请号： | 201810895824.8 | 申请日： | 2018-08-08 |
| 公开（公告）号： | CN109029744B | 公开（公告）日： | 2019-08-06 |
| 发明（设计）人： | 李华贵;刘旭东;李晶;高峰 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十四研究所 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 河北东尚律师事务所 13124 | 代理人： | 王文庆 |
| 地址： | 050081 河北省石家庄*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 涡旋 拓扑 微透镜 检测 理想成像 成像点 偏离 高速光通信 波前斜率 螺旋相位 位置坐标 数据处理 平面波 正入射 入射 应用 | ||
【权利要求书】：
1.一种涡旋光束拓扑荷数的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
(1)将多个相同的微透镜置于同一探测平面上，将探测器置于微透镜的焦平面上；
(2)分别测定每个微透镜中心与光轴中心的距离，记为ri，其中i为正整数；
(3)利用平面波照射微透镜组，分别测定每个微透镜像点在探测器上的位置，设为(xi,yi)；
(4)利用待测涡旋光束照射微透镜组，分别测定每个微透镜像点在探测器上的位置，记为(xi′,yi′)；
(5)计算每个微透镜测量得到的涡旋光束拓扑荷数为：其中λ为待测光束的波长，f为微透镜的焦距；
(6)将所有微透镜测得的涡旋光束拓扑荷数求平均得到最终的涡旋光束拓扑荷数测定结果，N为微透镜的个数。
2.如权利要求1所述的涡旋光束拓扑荷数的检测方法，其特征在于，每个微透镜与光轴的距离相同或不同。
3.如权利要求1或2所述的涡旋光束拓扑荷数的检测方法，其特征在于，涡旋光束拓扑荷的符号通过像点偏移方位来判断。
4.如权利要求1或2所述的涡旋光束拓扑荷数的检测方法，其特征在于，待测涡旋光束的拓扑荷数l应满足
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