[发明专利]电子元器件测试设备

说明书

本发明公开一种电子元器件测试设备，该电子元器件测试设备包括转盘装置、自动上料装置、物料测试装置、物料扫描装置和自动下料装置；其中，转盘装置包括驱动部件及多工位转盘；自动上料装置包括第一进出盘部件及取料部件，取料部件横跨于第一进出盘部件的上方且可沿垂直物料盘的移动方向运动；物料测试装置包括测试仪及测试探针；物料扫描装置用于读取条形码中储存的信息，其包括第一扫描机构和第二扫描机构；自动下料装置包括第二进出盘部件、物料盒移送部件以及送料部件，送料部件横跨于第二进出盘部件与物料盒移送部件的上方且可沿垂直物料盘的移动方向运动。本发明电子元器件测试设备可有效的提高电子元器件的测试效率。

技术领域

本发明涉及电子元器件测试领域，具体涉及一种电子元器件测试设备。

背景技术

近年来，随着电子元器件的高度集成及不断的升级细化，使得电子产品朝着小型化、低能耗、高精度及智能化的方向发展。而作为电子产品组成基础的各类电子元器件，在工厂生产加工后，需对其电性能参数进行测试，以保证电子元器件的安全性、稳定性及可靠性，进而保证电子产品的质量。

然而，传统电子元器件的电性能测试，其主要依靠人工将待检测电子元器件与对应的测试仪器进行电连接，通过测试仪器的显示屏，显示正在检测的电子元器件的电性能参数，以供检测人员参考；检测完成后，再由检测人员依据检测结果，手动筛选出成品与次品并将其置于不同的区域。此种检测方式，虽可满足对电子元器件的电性能参数测试，但其自动化程度较低，导致了测试效率相对较低的缺陷，其无法满足市场对于各类电子元器件的产量需求。因此，亟需一种自动化程度较高的电子元器件测试设备。

发明内容

本发明的主要目的在于提出一种电子元器件测试设备，以解决传统的电子元器件的测试效率相对较低的技术问题。

为解决上述技术问题，本发明提出一种电子元器件测试设备，该电子元器件测试设备包括用于传送物料的转盘装置以及沿所述转盘装置的转动方向依次布置的自动上料装置、物料测试装置、物料扫描装置和自动下料装置；其中，所述转盘装置包括驱动部件以及与所述驱动部件的执行端连接的多工位转盘；所述自动上料装置包括用于自动进出所述物料盘的第一进出盘部件以及用于将所述物料盘中的物料转移至所述转盘上的取料部件，所述取料部件横跨于所述第一进出盘部件的上方且可沿垂直所述物料盘的移动方向运动；所述物料测试装置包括用于对物料的电性能参数进行检测的测试仪以及用于连接所述测试仪与待测物料的测试探针；所述物料扫描装置用于读取所述条形码中储存的信息，其包括可沿平行、垂直所述物料盘的移动方向运动的第一扫描机构，以及位于所述第一扫描机构下方的第二扫描机构；所述自动下料装置包括用于自动进出所述物料盘的第二进出盘部件、与所述第二进出盘部件并排设置的物料盒移送部件以及用于将所述转盘上的物料转移至所述物料盘或物料盒中的送料部件，所述送料部件横跨于所述第二进出盘部件与物料盒移送部件的上方且可沿垂直所述物料盘的移动方向运动。

优选地，所述电子元器件测试设备还包括设置在所述物料测试装置和物料扫描装置之间的视觉检测装置，所述视觉检测装置包括CCD相机和光源组件，所述CCD相机设置在所述转盘上方且所述CCD相机的镜头朝向所述转盘，所述光源组件位于所述CCD相机正下方。

优选地，所述电子元器件测试设备还包括用于将所述取料部件上的物料转移至所述转盘上的上料转送装置及用于将所述转盘上的物料转移至所述送料部件上的下料转送装置；其中，所述上料转送装置位于所述自动上料装置和转盘装置之间，所述上料转送装置包括用于自所述取料部件上吸取物料并将其放置在所述转盘上的第一吸附机构，以及与所述第一吸附机构连接用于驱动所述第一吸附机构在所述取料部件与转盘之间执行取料、放料动作的第一驱动机构；所述下料转送装置位于所述转盘装置和自动下料装置之间，所述下料转送装置包括用于自所述转盘上吸取物料并将其放置在所述送料部件上的第二吸附机构，以及与所述第二吸附机构连接用于驱动所述第二吸附机构在所述转盘与送料部件之间执行取料、放料动作的第二驱动机构。