[发明专利]无镉量子点及其制备方法有效
申请号: | 201810903489.1 | 申请日: | 2018-08-09 |
公开(公告)号: | CN110819347B | 公开(公告)日: | 2022-10-04 |
发明(设计)人: | 高静;汪均;谢阳腊;乔培胜;余文华;李光旭;苏叶华 | 申请(专利权)人: | 纳晶科技股份有限公司 |
主分类号: | C09K11/88 | 分类号: | C09K11/88;C09K11/02;B82Y20/00;B82Y40/00;H01L31/0352;H01L33/00 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 韩建伟;谢湘宁 |
地址: | 310052 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 量子 及其 制备 方法 | ||
1.一种无镉量子点的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1,将含III族元素前体、V族元素前体和第一配体的第一原料混合反应,得到III-V族半导体纳米团簇;
S2,将含II族元素前体、VI族元素前体和第二配体的第二原料混合反应,得到II-VI族半导体纳米团簇;
S3,将所述III-V族半导体纳米团簇与所述II-VI族半导体纳米团簇混合反应,得到III-V-II-VI族量子点。
2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述III-V族半导体纳米团簇为InP团簇、InAs团簇、掺杂InP团簇或掺杂InAs团簇。
3.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,形成所述掺杂InP团簇或所述掺杂InAs团簇的步骤包括:
采用第一阳离子掺杂剂对所述InP团簇进行掺杂,形成所述掺杂InP团簇,或者采用第一阳离子掺杂剂对所述InAs团簇进行掺杂,形成所述掺杂InAs团簇;所述第一阳离子掺杂剂选自Zn、Mg、Ca、Sr、Al、Zr、Fe、Ti、Cr、Si与Ni中的任一种或多种。
4.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述II-VI族 半导体纳米团簇为ZnSe纳米团簇、ZnS纳米团簇、掺杂ZnSe团簇或掺杂ZnS纳米团簇。
5.根据权利要求4所述的制备方法,其特征在于,形成所述掺杂ZnSe团簇或所述掺杂ZnS纳米团簇的步骤包括:
采用第二阳离子掺杂剂对所述ZnSe纳米团簇进行掺杂,形成所述掺杂ZnSe团簇,或者采用第二阳离子掺杂剂对所述ZnS纳米团簇进行掺杂,形成所述掺杂ZnS纳米团簇;所述阳离子第二掺杂剂选自Mg、Ca、Sr、Al、Zr、Fe、Ti、Cr、Si与Ni中的任一种或多种。
6.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述VI族元素前体为硒前体。
7.根据权利要求6所述的制备方法,其特征在于,所述硒前体为Se-ODE悬浊液、Se-ODE溶液或烷基膦硒。
8.根据权利要求1至3中任一项所述的制备方法,其特征在于,所述III族元素前体与所述V族元素前体的摩尔比为50:1~1:50。
9.根据权利要求6所述的制备方法,其特征在于,所述III族元素前体与所述V族元素前体的摩尔比为10:1~1:10。
10.根据权利要求1、4、5、6和7中任一项所述的制备方法,其特征在于,所述II族元素前体与所述VI族元素前体的摩尔比为50:1~1:50。
11.根据权利要求10所述的制备方法,其特征在于,所述II族元素前体与所述VI族元素前体的摩尔比为20:1~1:5。
12.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,在所述步骤S3之后,所述制备方法还包括以下步骤:
将II-VI族壳层包覆在所述III-V-II-VI族量子点表面,形成III-V-II-VI/II-VI族核壳量子点。
13.根据权利要求12所述的制备方法,其特征在于,将所述III-V族半导体纳米团簇与所述II-VI族半导体纳米团簇中的第一部分混合反应,得到所述III-V-II-VI族量子点核,将所述II-VI族半导体纳米团簇中的第二部分作为所述III-V-II-VI族量子点的壳层,以形成所述III-V-II-VI/II-VI族核壳量子点,其中,所述第一部分与所述第二部分具有不同种类。
14.根据权利要求1至3中任一项所述的制备方法,其特征在于,所述步骤S1中的反应温度为30~200℃。
15.根据权利要求1至7中任一项所述的制备方法,其特征在于,所述步骤S2中的反应温度为100~280℃。
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