[发明专利]无镉量子点及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201810903489.1 申请日: 2018-08-09
公开(公告)号: CN110819347B 公开(公告)日: 2022-10-04
发明(设计)人: 高静;汪均;谢阳腊;乔培胜;余文华;李光旭;苏叶华 申请(专利权)人: 纳晶科技股份有限公司
主分类号: C09K11/88 分类号: C09K11/88;C09K11/02;B82Y20/00;B82Y40/00;H01L31/0352;H01L33/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 韩建伟;谢湘宁
地址: 310052 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 量子 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种无镉量子点的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1,将含III族元素前体、V族元素前体和第一配体的第一原料混合反应,得到III-V族半导体纳米团簇;

S2,将含II族元素前体、VI族元素前体和第二配体的第二原料混合反应,得到II-VI族半导体纳米团簇;

S3,将所述III-V族半导体纳米团簇与所述II-VI族半导体纳米团簇混合反应,得到III-V-II-VI族量子点。

2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述III-V族半导体纳米团簇为InP团簇、InAs团簇、掺杂InP团簇或掺杂InAs团簇。

3.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,形成所述掺杂InP团簇或所述掺杂InAs团簇的步骤包括:

采用第一阳离子掺杂剂对所述InP团簇进行掺杂,形成所述掺杂InP团簇,或者采用第一阳离子掺杂剂对所述InAs团簇进行掺杂,形成所述掺杂InAs团簇;所述第一阳离子掺杂剂选自Zn、Mg、Ca、Sr、Al、Zr、Fe、Ti、Cr、Si与Ni中的任一种或多种。

4.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述II-VI族 半导体纳米团簇为ZnSe纳米团簇、ZnS纳米团簇、掺杂ZnSe团簇或掺杂ZnS纳米团簇。

5.根据权利要求4所述的制备方法,其特征在于,形成所述掺杂ZnSe团簇或所述掺杂ZnS纳米团簇的步骤包括:

采用第二阳离子掺杂剂对所述ZnSe纳米团簇进行掺杂,形成所述掺杂ZnSe团簇,或者采用第二阳离子掺杂剂对所述ZnS纳米团簇进行掺杂,形成所述掺杂ZnS纳米团簇;所述阳离子第二掺杂剂选自Mg、Ca、Sr、Al、Zr、Fe、Ti、Cr、Si与Ni中的任一种或多种。

6.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述VI族元素前体为硒前体。

7.根据权利要求6所述的制备方法,其特征在于,所述硒前体为Se-ODE悬浊液、Se-ODE溶液或烷基膦硒。

8.根据权利要求1至3中任一项所述的制备方法,其特征在于,所述III族元素前体与所述V族元素前体的摩尔比为50:1~1:50。

9.根据权利要求6所述的制备方法,其特征在于,所述III族元素前体与所述V族元素前体的摩尔比为10:1~1:10。

10.根据权利要求1、4、5、6和7中任一项所述的制备方法,其特征在于,所述II族元素前体与所述VI族元素前体的摩尔比为50:1~1:50。

11.根据权利要求10所述的制备方法,其特征在于,所述II族元素前体与所述VI族元素前体的摩尔比为20:1~1:5。

12.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,在所述步骤S3之后,所述制备方法还包括以下步骤:

将II-VI族壳层包覆在所述III-V-II-VI族量子点表面,形成III-V-II-VI/II-VI族核壳量子点。

13.根据权利要求12所述的制备方法,其特征在于,将所述III-V族半导体纳米团簇与所述II-VI族半导体纳米团簇中的第一部分混合反应,得到所述III-V-II-VI族量子点核,将所述II-VI族半导体纳米团簇中的第二部分作为所述III-V-II-VI族量子点的壳层,以形成所述III-V-II-VI/II-VI族核壳量子点,其中,所述第一部分与所述第二部分具有不同种类。

14.根据权利要求1至3中任一项所述的制备方法,其特征在于,所述步骤S1中的反应温度为30~200℃。

15.根据权利要求1至7中任一项所述的制备方法,其特征在于,所述步骤S2中的反应温度为100~280℃。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于纳晶科技股份有限公司,未经纳晶科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810903489.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top