[发明专利]一种用于漏磁检测的磁导率仪在审
申请号: | 201810919378.X | 申请日: | 2018-08-09 |
公开(公告)号: | CN109142508A | 公开(公告)日: | 2019-01-04 |
发明(设计)人: | 卢永雄;阮鸥;黄威;王康;陆智明 | 申请(专利权)人: | 西红柿科技(武汉)有限公司 |
主分类号: | G01N27/83 | 分类号: | G01N27/83;G01R33/02 |
代理公司: | 深圳市知顶顶知识产权代理有限公司 44504 | 代理人: | 马世中 |
地址: | 430074 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 待检对象 磁传感器 对比样板 励磁单元 漏磁检测 磁导率 定量准确性 导磁性能 内部设置 缺陷定量 无损检测 磁性能 测量 评估 | ||
本发明适用于无损检测领域,提供一种用于漏磁检测的磁导率仪,其内部设置有励磁单元,在所述励磁单元下方设置一个或多个磁传感器。通过所述磁传感器可以实现对对比样板或者待检对象的导磁性能的测量,以用于后期的缺陷定量评估,这种方案,考虑进了对比样板或者待检对象的磁性能差别,能适应更多的待检对象,提高了缺陷的定量准确性。
技术领域
本发明属于无损检测领域,尤其涉及一种用于漏磁检测的磁导率仪。
背景技术
漏磁检测(Magnetic Flux Leakage,MFL)的原理比较清晰,主要是利用磁通在待检对象中的传导原理。当待检对象中包含腐蚀坑、气泡或者裂纹等缺陷的时候,因为这些缺陷的磁导率和待检对象母材的磁导率不同,导致缺陷处的磁通分布不同。在通常情况下,缺陷会在待检对象的表面引起一个磁通泄露,也就是所谓的漏磁。通过对这种泄露的磁通的检测,能定量地计算待检对象中的缺陷维度,包括深度等。
在进行漏磁检测前,一般要对检测仪器进行一个仪器校准,为缺陷的维度定量提供依据。例如国家标准《NB/T 47013-2015承压设备无损检测》中要求,采用校准样板和对比样板,对仪器的检测状态和定量能力进行检查。在校准样板和对比样板的制作过程中,要求采用和待检对象磁性能相近的材料制作。这样要求,是因为磁性能,特别是导磁性能,是影响漏磁检测的重要因素。在没有办法知道待检对象的磁性能的情况下,只能要求采用磁性能相近的材料,来解决这个问题。
实践中发现,因为待检对象的多样性,一般情况下只能根据材料的型号对待检对象的磁性能进行一个预估。这种预估是非常不准确的,能产生比较大的偏差。在没有办法顾及待检对象的磁性能的情况下,漏磁检测可能出现比较大的偏差。在极端的情况下,这种偏差能够达到20%或者更多。为进一步的提高漏磁检测的定量精度,有必要研发出一种仪器,能现场检测出待检对象的主要相关磁性能,为漏磁检测缺陷定量提供依据,提高其准确度。
发明内容
鉴于上述问题,本发明的目的在于提供一种用于漏磁检测的磁导率仪,旨在解决现有漏磁检测误差较大的技术问题。
本发明采用如下技术方案:
所述用于漏磁检测的磁导率仪,其内部设置有励磁单元,在所述励磁单元下方设置一个或多个磁传感器。
进一步的,所述磁传感器用于检测磁场强度,得知在不同的情况下,通过磁传感器处的磁场强度大小,得到磁场强度后就可以得到磁通大小,进而反向评估对比样板/待检对象的导磁性能。
进一步的,工作时,首先所述磁导率仪进行自检,然后将待检对象放在磁导率仪下方,获取待检对象的磁场强度,标记为目标值,然后选择一些对比样板逐个放在磁导率仪下方进行磁场强度测量,最后选择与所述目标值最接近的对比样板作为定量标准。
进一步的,还需记录待检对象的厚度。
进一步的,所述励磁单元采用U型结构或者背磁结构,所述U型结构为一块衔铁,衔铁两端向下设置磁铁,所述背磁结构为独立设置的磁铁,两种结构下,磁传感器均位于磁铁下方。
进一步的,所述磁铁采用永磁铁或者电磁铁。
进一步的,当励磁单元选择永磁铁时,磁导率仪测量前后通过内置的磁传感器来监测永磁铁的磁性能,在每次检测前和检测后,都对励磁单元永磁铁本身的磁场强度进行读数,并记录,以保证使用时励磁单元是稳定可靠的。
进一步的,当励磁单元选择电磁铁时,检测和显示通过电磁铁的电流,保证电流在检测前后保持不变;或者也可以采用在每次检测前和检测后,都对励磁单元电磁铁产生磁场的磁场强度进行读数,并记录。
本发明的有益效果是:本发明仪器内置磁传感器,可以实现对对比样板或者待检对象的导磁性能的测量,以用于后期的缺陷定量评估,这种方案,考虑进了对比样板或者待检对象的磁性能差别,能适应更多的待检对象,提高了缺陷的定量准确性。
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