[发明专利]显示面板的残像检测方法和残像检测装置有效
申请号: | 201810923289.2 | 申请日: | 2018-08-14 |
公开(公告)号: | CN108877615B | 公开(公告)日: | 2021-10-19 |
发明(设计)人: | 尹岩岩;宋玉冰 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 姜春咸;陈源 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 面板 检测 方法 装置 | ||
1.一种显示面板的残像检测方法,其特征在于,包括;
控制待检测的显示面板交替显示检测画面和棋盘格画面;所述棋盘格画面包括矩阵排列的多个纯色子画面,每相邻两个纯色子画面的颜色分别为第一颜色和第二颜色;所述检测画面的颜色、所述第一颜色和第二颜色互不相同;
在所述显示面板的显示区域中选定多个检测区,每个所述纯色子画面所在的区域均包括多个所述检测区;
采集第一个和第i个检测画面的图像,每个检测画面的图像包括多个检测子图像,多个检测子图像分别为所述检测画面位于各个检测区中的部分的图像;i为大于1的整数;
根据第一个检测画面的图像和第i个检测画面的图像中的各个检测子图像的颜色信息,计算每个检测区的颜色变化率;
计算每个检测区的颜色变化率与相邻检测区的颜色变化率的差值,并将该差值作为每个检测区的残像系数;
根据每个检测区的残像系数判断所述显示面板的残像等级和/或残像位置;
其中,在所述显示面板的显示区域中选定多个检测区的步骤包括:
根据以下公式(1)确定数据提取区的尺寸:
L=2*D*tan(0.5°) (1)
其中,所述数据提取区为正方形,L为所述数据提取区的边长;D为预定观测距离;
根据每个数据提取区的尺寸和所述纯色子画面的尺寸,在所述显示面板的显示区域中确定出均匀分布的多个所述数据提取区,多个数据提取区排成多行多列;
将每个数据提取区中的至少一部分作为所述检测区。
2.根据权利要求1所述的显示面板的残像检测方法,其特征在于,所述检测区沿行方向的尺寸为所述数据提取区沿行方向尺寸的一半,所述检测区沿列方向的尺寸为所述数据提取区沿列方向尺寸的一半;每相邻两列检测区之间的间隔相同,每相邻两行检测区之间的间隔相同。
3.根据权利要求1至2中任意一项所述的显示面板的残像检测方法,其特征在于,所述颜色信息包括亮度,所述显示面板的显示区域中的多个检测区排成多行多列;
每个检测区的颜色变化率根据以下公式(2)计算:
ISR(m,n)=|LA’(m,n)—LA(m,n)|/LA(m,n) (2)
其中,ISR(m,n)为第m行第n列检测区的颜色变化率,LA(m,n)为第一个检测画面的图像中与第m行第n列检测区对应的检测子图像的亮度,LA’(m,n)为第i个检测画面中与第m行第n列检测区对应的检测子图像的亮度;
除最后一行的检测区和最后一列的检测区之外,其余每个检测区的残像系数根据以下公式(3)计算:
A(m,n)=Max(|ISR(m+1,n)—ISR(m,n)|,|ISR(m,n+1)—ISR(m,n)|) (3)
其中,A(m,n)为第m行第n列的检测区的残像系数;ISR(m+1,n)为第m+1行第n列的检测区的颜色变化率;ISR(m,n)为第m行第n列的检测区的颜色变化率;ISR(m,n+1)为第m行第n+1列的检测区的颜色变化率;m为小于所述检测区的行数的整数,n为小于所述检测区的列数的整数。
4.根据权利要求1至2中任意一项所述的显示面板的残像检测方法,其特征在于,所述残像检测方法还包括:预先设置并存储每个检测区的残像系数与残像水平的第一对应关系,以及残像等级、残像位置与残像原因的第二对应关系;
根据每个检测区的残像系数判断所述显示面板的残像等级和/或残像位置的步骤包括:根据每个检测区的残像系数以及所述第一对应关系确定所述显示面板的残像位置和残像等级;
所述残像检测方法还包括:根据所述显示面板的残像位置和残像等级以及所述第二对应关系确定所述显示面板的残像原因。
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