[发明专利]一种建立基准坐标系的方法

权利要求书

1.一种建立基准坐标系的方法，所述基准坐标系用于调整六维力/力矩传感器的标校坐标系，其特征在于，包括：

在标校坐标系的第一参考面上设置第一X轴基准线和第一Y轴基准线，在标校坐标系的第二参考面上设置第二X轴基准线，在标校坐标系的第三参考面上设置第二Y轴基准线；

在所述第一X轴基准线上设置X轴测绘设备，将所述X轴测绘设备的铅垂线与视窗内的参考线构成的平面调整到与第一X轴基准线和第二X轴基准线构成的平面重合，并作为所述基准坐标系的X基准面；

在所述第一Y轴基准线上设置Y轴测绘设备，将所述Y轴测绘设备的铅垂线与视窗内的参考线构成的平面调整到与第一Y轴基准线和第二Y轴基准线构成的平面重合，并作为所述基准坐标系的Y基准面；

在所述第一参考面上设置Z轴测绘设备，所述Z轴测绘设备的水准器调整为水平时，将视窗内的参考线视野形成的平面作为所述基准坐标系的Z基准面。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

在标校坐标系的第一参考面上设置第一X轴基准线和第一Y轴基准线，在标校坐标系的第二参考面上设置第二X轴基准线，在标校坐标系的第三参考面上设置第二Y轴基准线，包括：

根据所述第一参考面的空间中心点确定所述基准坐标系的基准点，在所述第一参考面上设置互相垂直且交汇点为所述基准点的第一辅助线和第二辅助线；

基于设置在所述基准点的测绘设备、所述第一辅助线和所述第二辅助线确定所述第一X轴基准线、第一Y轴基准线、第二X轴基准线和第二Y轴基准线。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

所述基于设置在所述基准点的测绘设备、所述第一辅助线和所述第二辅助线确定所述第一X轴基准线、第一Y轴基准线、第二X轴基准线和第二Y轴基准线，包括：

调整所述测绘设备，使得所述测绘设备铅垂线方向的激光点与所述基准点对准，所述测绘设备视窗内的参考线与所述第一辅助线平行，将所述参考线作为X轴基准线；在所述第一参考面上设置与所述X轴基准线重合的第一X轴基准线，在所述第二参考面上设置与所述X轴基准线重合的第二X轴基准线；

根据所述测绘设备的读数将所述测绘设备水平旋转90°，使所述测绘设备视窗内的参考线与所述第二辅助线平行，将所述参考线作为Y轴基准线；在所述第一参考面上设置与所述Y轴基准线重合的第一Y轴基准线，在所述第三参考面上设置与所述Y轴基准线重合的第二Y轴基准线。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，

在所述第一参考面上设置与所述X轴基准线重合的第一X轴基准线，在所述第二参考面上设置与所述X轴基准线重合的第二X轴基准线，包括：

在所述第一参考面上确定与所述X轴基准线重合的多个点，连线所述多个点以确定所述第一X轴基准线；

在所述第二参考面上确定与所述X轴基准线重合的多个点，连线所述多个点以确定所述第二X轴基准线。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，

在所述第一参考面上设置与所述Y轴基准线重合的第一Y轴基准线，在所述第三参考面上设置与所述Y轴基准线重合的第二Y轴基准线，包括：

在所述第一参考面上确定与所述Y轴基准线重合的多个点，连线所述多个点以确定所述第一Y轴基准线；

在所述第三参考面上确定与所述Y轴基准线重合的多个点，连线所述多个点以确定所述第二Y轴基准线。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

将所述X轴测绘设备的铅垂线与视窗内的参考线构成的平面调整到与第一X轴基准线和第二X轴基准线构成的平面重合，包括：

调整所述第一X轴基准线上的X轴测绘设备，使所述X轴测绘设备的铅垂线方向上的激光点对准所述第一X轴基准线，视窗内的参考线与所述第二X轴基准线重合。