[发明专利]光电元件测试系统及方法在审

专利信息
申请号: 201810925604.5 申请日: 2018-08-13
公开(公告)号: CN108828383A 公开(公告)日: 2018-11-16
发明(设计)人: 庄礼杰;杨强 申请(专利权)人: 深圳市亚派光电器件有限公司
主分类号: G01R31/01 分类号: G01R31/01;G01R1/04
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 胡海国
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 光电元件测试 光电元件 系统背板 光电插座 直流测试 安装板 被测件 测试电路 电性连接 测试 测试效率 插接 上电
【说明书】:

发明公开一种光电元件测试系统及方法,其中,光电元件测试系统包括系统背板、被测件安装板及直流测试板;系统背板设置有第一接口及第二接口,被测件安装板通过第一接口与系统背板连接,直流测试板通过第二接口与系统背板连接,第一接口与第二接口电性连接;被测件安装板上设置多个供待测光电元件插接的光电插座,多个光电插座分别与第一接口电性连接;直流测试板上设置有测试电路,测试电路用于对多个光电插座上的待测光电元件上电并进行逐个测试。本发明光电元件测试系统可实现对多个光电元件依次进行测试,提高了光电元件的测试效率。

技术领域

本发明涉及光电元件技术领域,特别涉及一种光电元件测试系统及方法。

背景技术

光电元件用于实现光电转换作用,在使用前需要对其进行对应的性能测试,例如暗电流和响应度等,常规的测试方法是采用测试板对单个光电元件进行测试,测试完毕后,将光电元件从插座中拔出,并换上下一个待测的光电元件,采用这种方法测试多个光电元件时需要进行多次光电元件插拔的动作,增加了测试人员的工作量,工作效率低。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种光电元件测试系统,旨在提高光电元件的测试效率。

为实现上述目的,本发明提出一种光电元件测试系统,该光电元件测试系统包括系统背板、被测件安装板及直流测试板;所述系统背板设置有第一接口及第二接口,所述被测件安装板通过所述第一接口与所述系统背板连接,所述直流测试板通过所述第二接口与所述系统背板连接,所述第一接口与所述第二接口电性连接;

所述被测件安装板上设置多个供待测光电元件插接的光电插座,多个所述光电插座分别与所述第一接口电性连接;

所述直流测试板上设置有测试电路,所述测试电路用于对多个所述光电插座上的待测光电元件上电并进行逐个测试。

优选地,所述被测件安装板上还设置有第三接口,所述光电插座通过测试线与第三接口连接,所述第三接口与所述第一接口插接安装;

所述直流测试板上还设置有第四接口,所述测试电路通过测试线与第四接口连接,所述第四接口与第二接口插接安装。

优选地,所述直流测试板根据与所述光电元件的测试功能分为光接收测试板、光发射测试板;所述直流测试板上设有多组不同测试功能的测试电路。

优选地,所述测试电路还用于在所述光电元件上电时,输出触发信号至一所述光电插座,并接收所述光电插座的反馈信号确定所述光电插座上安装有待测光电元件时,输出检测信号进行测试,当确定所述光电插座上未安装有待测光电元件时,执行检测另一光电插座的操作。

优选地,所述光电插座有多个插孔,用于将光电元件的管脚对应插入光电插座特定的插孔中;所述测试电路根据所述光电元件的管脚识别所述光电元件的类型,并根据所述光电元件的类型运行与其匹配的测试电路进行逐个测试。

优选地,所述测试电路还与上位机连接,所述测试电路在检测多个所述光电元件时将获取的各测试参数进行存储,并将所述测试参数反馈至所述上位机。

优选地,所述光电元件测试系统还包括老化测试系统,所述老化测试系统与所述系统背板的第二接口连接以对多个所述光电元件进行老化测试。

本发明还提出一种光电元件测试方法,应用于如上所述的光电元件测试系统中,所述光电元件测试方法包括:

步骤S1、将待测试的多个光电元件安装在被测件安装板的多个光电插座上,通过测试线将所述系统背板与被测件安装板和直流测试板分别连接;

步骤S2、接收到测试指令时,直流测试板从多个所述光电插座中选取一个作为当前测试插座;

步骤S3、直流测试板向当前测试插座输出触发信号,当前测试插座接收到所述触发信号后,向所述直流测试板反馈当前测试插座是否安装有待测试光电元件的反馈信号;

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