[发明专利]电位器总装测试系统及其测试方法有效

专利信息
申请号: 201810927429.3 申请日: 2018-08-15
公开(公告)号: CN108645455B 公开(公告)日: 2023-09-15
发明(设计)人: 范罗荣 申请(专利权)人: 无锡市航鹄科技有限公司
主分类号: G01D21/02 分类号: G01D21/02
代理公司: 无锡松禾知识产权代理事务所(普通合伙) 32316 代理人: 段小丽
地址: 214000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 电位器 总装 测试 系统 及其 方法
【说明书】:

发明公开了电位器总装测试系统,包括测试平台、测试工装、被测直线电位器、光栅尺和固定板,所述测试工装设置在所述测试平台的滑台上,所述被测直线电位器安装设置在所述测试工装上,所述光栅尺设置在测试平台的长度方向上,所述固定板设置在测试平台的固定基座上,且所述固定板上沿测试工装的滑动方向设置有推杆,所述推杆朝向被测电位器的一端与被测直线电位器的活动端子连接设置;所述被测直线电位器的活动端子在测试平台的滑台的往复滑动位移作用下与被测直线电位器的固定端子相对滑动位移,可方便快速和准确的对直线电位器进行各参数的测试。

技术领域

本发明属于电位器测试领域,特别涉及电位器总装测试系统及其测试方法。

背景技术

电位器通常由电阻体和可移动的电刷组成,当电刷沿电阻体移动时,在输出端即获得与位移量成一定关系的电阻值或电压值。其包含直线式电位器等,在生产或者在精密场合使用该系列的电位器时,需测量其线性度、重复精度误差等参数,所测参数作为电位器验收合格与否的判定依据。

发明内容

发明目的:为了克服现有技术中存在的不足,本发明提供一种电位器总装测试系统及其测试方法,可方便快速和准确的对直线电位器进行各参数的测试。

技术方案:为实现上述目的,本发明的技术方案如下:

电位器总装测试系统,包括测试平台、测试工装、被测直线电位器、光栅尺和固定板,所述测试平台为往复直线位移模组,所述测试工装设置在所述测试平台的滑台上,所述被测直线电位器安装设置在所述测试工装上,且所述被测直线电位器的长度方向沿测试平台的直线位移方向设置,所述光栅尺设置在测试平台的长度方向上,所述固定板设置在测试平台的固定基座上,且所述固定板上沿测试工装的滑动方向设置有推杆,所述推杆朝向被测电位器的一端与被测直线电位器的活动端子连接设置;所述被测直线电位器的活动端子在测试平台的滑台的往复滑动位移作用下与被测直线电位器的固定端子相对滑动位移。

进一步的,所述被测直线电位器与固定板之间设置有支撑座,所述支撑座设置在测试平台的滑台上,所述支撑座支撑设置被测直线电位器的一端,所述测试工装为丝杆机构,所述测试工装的滑块支撑所述被测直线电位器的另一端设置,所述被测直线电位器通过支撑座和滑块保持水平设置。

进一步的,所述支撑座包括固定座和设置所述固定座上方的锁紧块,所述被测直线电位器的一端被夹紧设置在所述固定座与锁紧块之间;所述锁紧块上贯通开设有推杆通孔,所述推杆穿过推杆通孔与活动端子连接,所述推杆通孔内壁与推杆间距设置。

进一步的,所述锁紧块朝向固定块的一侧贯通开设有通槽,所述通槽为矩形槽,所述通槽的顶部与推杆通孔连通设置,且所述通槽的底部朝向固定座开口设置;所述通槽的宽度大于活动端子的宽度,且所述通槽在推杆通孔轴向方向上与滑块正对设置。

进一步的,所述固定座的顶部凹设有安装凹槽,所述安装凹槽在被测直线电位的长度方向上贯通设置。

进一步的,还包括限位装置,所述限位装置包括位距调节机构、导向杆、限位块、支撑组件和支座,所述位距调节机构设置在测试平台的滑台上方,且所述位距调节机构与测试工装相对固定设置,所述位距调节杆机构为丝杆机构,所述丝杆机构的滑动块为位距滑块,所述位距滑块的滑动方向与测试平台的滑台的滑动方向相同,所述导向杆的一端固定设置在位距滑块上,且所述导向杆的另一端为自由端,且所述导向杆的自由端沿滑台的位移方向活动穿设在远离所述位距调节机构驱动端的端向侧壁上,所述导向杆伸出至位距调节机构外部;所述支座相邻测试平台设置,所述支座上设置有支撑组件,所述支撑组件向位距调节机构的一侧伸出,所述支撑组件的伸出端上设置有限位块,所述限位块为活动套设在导向杆上的环形件,所述限位块位于位距滑块与端向侧壁之间;所述位距滑块与端向侧壁之间的间距形成测试平台往复位移的测试行程,且通过所述限位块在测试行程内限位滑台往复位移的两行程极点。

进一步的,所述位距滑块与端向侧壁相对的两侧壁上均设置有行程开关或者接触传感器。

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