[发明专利]结合机床的主轴使用几何探针的方法及执行此方法的机床

权利要求书

1.用于结合机床(1)的主轴(3)使用几何探针(5)的方法，其中

-在所述机床(1)的探针取来等待状态下，通过测量用于所述主轴(3)的至少一个温度值来确定关于所述机床(1)的主轴(3)的温度的至少一个温度参数，以及

-取决于所述至少一个温度参数来确定用于取来所述几何探针(5)的时间。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一个温度参数选自以下构成的组：所述至少一个温度值，以及测得的主轴温度的时间导数。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，测量用于所述主轴(3)的初始温度值作为所述至少一个温度值，且取决于所述初始温度值来确定取来所述几何探针(5)之前等待的用于所述机床(1)的等待时间间隔(Δt_w)。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在以下时间，测量所述主轴(3)的温度值(T)的时间序列，且产生取来所述几何探针(5)的信号：

a)当所述温度值(T)在预定相对温度范围内保持恒定达预定时间间隔时，和/或

b)当所述温度值(T)达到或低于预定探针取来温度极限(T1)时，和/或

c)当温度值(T)的时间序列的时间导数(DT)达到或超过预定探针取来导数极限(DT1)时，和/或

d)如果条件a)至c)都不适用，则在预定最大等待时间之后。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，如果在过去所述预定最大等待时间之后产生取来所述几何探针(5)的信号，则产生警告信号。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述主轴(3)的温度模型用于确定所述等待时间间隔(Δt_w)、所述预定相对温度范围、所述预定时间间隔、所述预定探针取来温度极限(T1)和/或所述预定探针取来导数极限(DT1)中的至少一者。

7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，在更换或拾取工具的拾取信号时，检查所述拾取信号是否是探针取来请求信号，且进一步，如果所述拾取信号是探针取来请求信号，则使所述机床(1)进入所述探针取来等待状态。

8.根据权利要求1-6中任一项所述的方法，其特征在于，主轴温度调整工具(15)在所述探针取来等待状态下安装到所述主轴(3)上。

9.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在取来所述几何探针(5)的信号时取来所述几何探针(5)，且从所述几何探针(5)的取来到所述几何探针(5)的第一次使用等待预定探针等待时间。

10.根据权利要求1-6,9中任一项所述的方法，其特征在于，

a)所述机床(1)是铣床，和/或

b)所述几何探针(5)是接触探针。

11.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，取来所述几何探针(5)的时间还取决于至少一个预设机器用户参数来确定。

12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述至少一个预设机器用户参数选自以下构成的组：预设加工准确性、预设加工速度、和通过用所述机床加工工件的表面所要达到的所述工件的所述表面的预设表面质量。

13.根据权利要求11和权利要求12中的一项所述的方法，其特征在于，至少一个取来时间参数取决于所述至少一个预设机器用户参数来确定，所述至少一个取来时间参数选自以下构成的组：可变时间和/或可变温度阈值、可变延迟、所述等待时间间隔(Δt_w)、所述预定相对温度范围、所述预定时间间隔、所述预定探针取来温度极限(T1)、所述预定探针取来导数极限(DT1)、所述预定最大等待时间，以及所述预定探针等待时间。