[发明专利]计算复杂地表区的浮动基准面静校正量的方法在审
| 申请号： | 201810930300.8 | 申请日： | 2018-08-15 |
| 公开（公告）号： | CN110837120A | 公开（公告）日： | 2020-02-25 |
| 发明（设计）人： | 余青露;居兴国;李进;邹少峰;肖盈;高艳霞;祝媛媛;刘思思 | 申请（专利权）人： | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院 |
| 主分类号： | G01V1/36 | 分类号： | G01V1/36 |
| 代理公司： | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人： | 吴大建;张杰 |
| 地址： | 100728 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 计算 复杂 地表 浮动 基准面 校正 方法 | ||
1.一种用于计算复杂地表区的浮动基准面静校正量的方法，所述浮动基准面静校正量为三维地震数据中每个CMP点相对固定基准面的静校正量，所述方法包括：
通过平均静校正量法计算出所述每个CMP点的浮动基准面静校正量；
利用非局部均值滤波法在空间域平滑所述每个CMP点的浮动基准面静校正量。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，通过平均静校正量法计算出所述每个CMP点的浮动基准面静校正量包括：
对每个CMP道集的各道的炮点和检波点相对固定基准面的静校正量进行求和平均，得到每个CMP点的浮动基准面静校正量。
3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述炮点和检波点相对固定基准面的静校正量Tm的计算公式为：
其中，Eg(m)是第m个炮点或检波点的高程；hnm为第m个炮点或者检波点对应的第n层低速带厚度，Vn是低速带各层速度；N为低速带层数；vc是静校正替换速度；Ed是固定基准面的高程。
4.根据权利要求1所述的方法，其中，在计算所述每个CMP点的浮动基准面静校正量时加入所述每个CMP点的权重值。
5.根据权利要求1所述的方法，其中，利用非局部均值滤波法在空间域平滑所述每个CMP点的浮动基准面静校正量包括：
选取控制滤波强度的参数，使得经平滑的所述每个CMP点的浮动基准面静校正量与通过平均静校正量法得到的所述每个CMP点的浮动基准面静校正量相比，二者形态相似。
6.根据权利要求1所述的方法，其中，利用非局部均值滤波法在空间域平滑所述每个CMP点的浮动基准面静校正量包括：
假设p点是滤波器要处理的点，当滤波器遍历到p点时，需要对p点邻域内的像素点进行遍历，假设q点是p点邻域内的一个像素，算法遍历到q点，则需要计算p点和q点之间的权重值，其包括：
得到两个分别以p和q为中心、大小为(2f+1)(2f+1)的矩形相似窗口B(p,f)和B(q,f)，f为相似窗口的半径；以及
计算出B(p,f)和B(q,f)之间的高斯加权欧式距离。
7.根据权利要求6所述的方法，其中，利用非局部均值滤波法在空间域平滑所述每个CMP点的浮动基准面静校正量还包括：
加入高斯核计算得到p点和q点之间的权重值。
8.根据权利要求7所述的方法，其中，利用非局部均值滤波法在空间域平滑所述每个CMP点的浮动基准面静校正量还包括：
根据得到的权重值以及q点处的值计算出p点的平滑结果。
9.根据权利要求8所述的方法，其中，利用非局部均值滤波法在空间域平滑所述每个CMP点的浮动基准面静校正量包括：
选取的搜索半径为9，相似半径为5，控制滤波强度的参数为80。
10.一种存储介质，其中存储有计算机可执行的程序，所述程序在被执行时适于实施用于计算复杂地表区的浮动基准面静校正量的方法，所述浮动基准面静校正量为三维地震数据中每个CMP点相对固定基准面的静校正量，所述方法包括：
通过平均静校正量法计算出所述每个CMP点的浮动基准面静校正量；
利用非局部均值滤波法在空间域平滑所述每个CMP点的浮动基准面静校正量。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院，未经中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810930300.8/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
