[发明专利]一种反冲质子法快中子探测装置

权利要求书

1.一种反冲质子法快中子探测装置，其特征在于，该探测装置包括外壳、底座、探测器、含氢薄膜、抽气口、密封盖板、接头；所述外壳为上端开口的筒体结构，且其上端部边缘具有周向向外延伸的外沿，其侧面设有向远离外壳轴心方向延伸的抽气口；所述探测器包括探测器主体和信号输出端子；其中，

所述抽气口设置在外壳上，所述外壳内设有底座，所述底座上设有含氢薄膜和探测器，所述探测器上设有信号输出端子，所述端子与接头相连，所述接头固定在密封盖板上，所述密封盖板与底座上端部固定连接，且与外壳的外沿密封连接。

2.根据权利要求1所述的探测装置，其特征在于，所述底座为两端开口的筒体结构，且上端开口设有周向向外延伸的第一边沿，下端开口设有周向向外延伸的第二边沿，且所述边沿设有可容纳探测器的凹口。

3.根据权利要求1所述的探测装置，其特征在于，所述外壳的外沿上设有若干开孔，且在所述开孔靠轴心的一侧设有周向延伸的凹槽；所述底座的第一边沿和第二边沿分别设有若干第一开孔和第二开孔；所述密封盖板设有若干与第一外沿开孔相适应的第一固定孔；所述密封盖板设有与所述外沿开孔相适应的第二固定孔；所述排气口设有周向向外延伸的第三边沿。

4.根据权利要求1所述的探测装置，其特征在于，所述探测器为两端内凹的柱体结构，其内凹部的尺寸与底座的内部尺寸相适应，且所述主体结构的一侧设有向远离轴心方向延伸的信号输出端子；所述密封盖板的中心设有通孔。

5.根据权利要求1所述的探测装置，其特征在于，所述底座的第二边沿的一侧设有凹槽。

6.根据权利要求1所述的探测装置，其特征在于，所述密封盖板的中心具有向外的凸起，其尺寸与底座的内部尺寸相匹配。

7.根据权利要求1所述的探测装置，其特征在于，所述外壳的底部外围设有屏蔽层。

8.根据权利要求1所述的探测装置，其特征在于，所述探测器与含氢薄膜之间设有限定宽度的间隔。

9.根据权利要求1所述的探测装置，其特征在于，根据不同中子入射方向选择不同厚度的含氢薄膜，其厚度范围在0.1mm～2mm之间。