[发明专利]基于导热性能检测的电缆老化横向位置红外检测方法

权利要求书

1.基于导热性能检测的电缆老化横向位置红外检测方法，在基于导热性能检测的电缆老化位置红外检测装置上实现；

其特征在于，所述基于导热性能检测的电缆老化横向位置红外检测方法包括以下步骤：

步骤c1、得到系列灰度数据

上一红外摄像头(11)得到灰度数据k11，上二红外摄像头(12)得到灰度数据k12，上三红外摄像头(13)得到灰度数据k13，中一红外摄像头(21)得到灰度数据k21，中二红外摄像头(22)得到灰度数据k22，中三红外摄像头(23)得到灰度数据k23，下一红外摄像头(31)得到灰度数据k31，下二红外摄像头(32)得到灰度数据k32，下三红外摄像头(33)得到灰度数据k33；

步骤c2、从中环形圈(2)所在水平面得到老化横向初始位置

判断min(|k21-k22|,|k21-k23|,|k22-k23|)的最小值，如果：

第一种情况：|k21-k22|最小，老化位置位于中三红外摄像头(23)所覆盖的区域或中一红外摄像头(21)和中二红外摄像头(22)的交界；

第二种情况：|k21-k23|最小，老化位置位于中二红外摄像头(22)所覆盖的区域或中一红外摄像头(21)和中三红外摄像头(23)的交界；

第三种情况：|k22-k23|最小，老化位置位于中一红外摄像头(21)所覆盖的区域或中二红外摄像头(22)和中三红外摄像头(23)的交界；

步骤c3、从上环形圈(1)和下环形圈(3)所在水平面得到老化横向最终位置

考察|k11-k12|，|k11-k13|，|k12-k13|，|k31-k32|，|k31-k33|，|k32-k33|六个取值，

在步骤c2的第一种情况下，

如果|k11-k12|和|k31-k32|分别是上环形圈(1)和下环形圈(3)所在水平面内红外数据的最小值，则老化位置位于中三红外摄像头(23)所覆盖的区域；

如果则老化位置位于中一红外摄像头(21)和中二红外摄像头(22)的交界；

在步骤c2的第二种情况下，

如果|k11-k13|和|k31-k33|分别是上环形圈(1)和下环形圈(3)所在水平面内红外数据的最小值，则老化位置位于中二红外摄像头(22)所覆盖的区域；

如果则老化位置位于中一红外摄像头(21)和中三红外摄像头(23)的交界；

在步骤c2的第三种情况下，

如果|k12-k13|和|k32-k33|分别是上环形圈(1)和下环形圈(3)所在水平面内红外数据的最小值，则老化位置位于中一红外摄像头(21)所覆盖的区域；

如果则老化位置位于中二红外摄像头(22)和中三红外摄像头(23)的交界；

所述基于导热性能检测的电缆老化横向位置红外检测方法用于检测电缆老化位置，具体包括以下步骤：

步骤a、用中环形圈给电缆加热；

步骤b、让电缆自然冷却，冷却温度高于加热前温度；

步骤c、确定老化横向位置；

步骤d、确定老化轴向位置；

步骤e、根据老化横向位置和轴向位置，确定空间位置。