[发明专利]散热装置以及检测设备有效
申请号: | 201810933117.3 | 申请日: | 2018-08-16 |
公开(公告)号: | CN109195402B | 公开(公告)日: | 2020-08-04 |
发明(设计)人: | 郭明坤 | 申请(专利权)人: | 飞依诺科技(苏州)有限公司 |
主分类号: | H05K7/20 | 分类号: | H05K7/20 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 唐清凯 |
地址: | 215123 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 散热 装置 以及 检测 设备 | ||
本申请涉及一种散热装置以及检测设备。检测设备包括外壳、芯片以及散热装置。外壳密封。芯片设置于外壳内。散热装置包括散热件,散热件具有相互连接的接热部与散热部。接热部连接芯片,散热部设置于外壳外。本申请提供的散热装置,可以通过散热件的接热部连接检测设备的芯片,进而将芯片上的热量直接传导到散热件的接热部;然后,通过接热部将热量传导给与其连接的散热部;最后,通过设置于检测设备的外的散热部向检测设备外散热,进而降低检测设备的芯片温度,提高检测设备的使用寿命。
技术领域
本申请涉及检测技术领域,特别是涉及一种散热装置以及检测设备。
背景技术
随着检测技术的发展,各种检测设置应用至各个行业之中,方便人们对各种信息的判断。
相关技术中的一些检测设备,为了高质量需求,会采用高功耗的芯片。这些检测设备工作时,引入的高功耗会产生大量热。同时,上述设备往往还需要将芯片设置于密封的外壳内,以使其具备防水防尘功能。
但是密封的外壳无法开孔散热。检测设备会由于芯片温度过高,从而导致芯片负载过大,甚至损坏芯片。检测设备的使用寿命也因此而降低。
发明内容
基于此,有必要针对上述密封的外壳无法散热的技术问题,提供一种能够对检测设备进行有效散热的散热装置。
同时,本申请还提供一种能够有效散热的检测设备。
一种散热装置,应用于检测设备,所述散热装置包括散热件,所述散热件具有相互连接的接热部与散热部,所述接热部用于连接所述检测设备的芯片,所述散热部用于向所述检测设备外散热。
在其中一个实施例中,所述接热部包括第一壳体,所述散热部包括第二壳体,所述第一壳体与所述第二壳体内部相通且围成储液腔,所述储液腔内具有工作液体,且所述工作液体密封在所述储液腔内部。
在其中一个实施例中,散热装置还包括冷却组件,所述冷却组件面对至少部分所述散热部。
在其中一个实施例中,所述冷却组件包括风扇,所述风扇面对所述散热部。
在其中一个实施例中,所述冷却组件还包括具有开孔的散热机箱以及印刷电路板,所述散热机箱包裹至少部分所述散热部,所述印刷电路板以及所述风扇位于所述散热机箱内,且所述印刷电路板电性连接所述风扇。
在其中一个实施例中,所述冷却组件包括扩散件,所述扩散件连接所述散热部。
在其中一个实施例中,所述扩散件包括至少一个麒片且环绕连接于所述散热部。
在其中一个实施例中,所述散热装置还包括用于电性连接所述芯片的导线,所述导线与所述散热件包覆在一起。
在其中一个实施例中,所述导线包括导电线以及绝缘层,所述绝缘层包覆所述导电线。
一种检测设备,包括外壳、芯片以及上述任一项所述的散热装置,所述外壳密封,所述芯片设置于所述外壳内,所述接热部连接所述芯片,所述散热部设置于所述外壳外。
上述散热装置,可以通过散热件的接热部连接检测设备的芯片,进而将芯片上的热量直接传导到散热件的接热部;然后,通过接热部将热量传导给与其连接的散热部;最后,通过设置于检测设备的外的散热部向检测设备外散热,进而降低检测设备的芯片温度,提高检测设备的使用寿命。
附图说明
图1为一个实施例中的检测设备立体图;
图2为图1所示的检测设备另一角度的分解图;
图3为图1所示的检测设备的剖面图。
附图标记:
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