[发明专利]一种低压驱动高增益值的反相器及其制备方法在审
申请号: | 201810934955.2 | 申请日: | 2018-08-16 |
公开(公告)号: | CN109326622A | 公开(公告)日: | 2019-02-12 |
发明(设计)人: | 陆旭兵;赖伟升;何宛兒 | 申请(专利权)人: | 华南师范大学 |
主分类号: | H01L27/28 | 分类号: | H01L27/28;H01L51/30;H01L51/40 |
代理公司: | 广州骏思知识产权代理有限公司 44425 | 代理人: | 吴静芝 |
地址: | 510006 广东省广州市番禺区外*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 反相器 衬底 绝缘层 并五苯薄膜 低压驱动 底电极 高增益 修饰层 制备 薄膜 电学性能 互补作用 顶电极 覆盖 功耗 匹配 转换 | ||
1.一种低压驱动高增益值的反相器,其特征在于:包括衬底、第一底电极、第二底电极、绝缘层、修饰层、有源层和顶电极;所述第一底电极和第二底电极设置在所述衬底上并相互分离;所述绝缘层为Al2O3薄膜,其覆盖所述衬底、第一底电极和第二底电极上表面;所述修饰层设置在所述绝缘层上表面;所述有源层包括相互分离的PTCDI-C8薄膜和并五苯薄膜,所述PTCDI-C8薄膜设置在所述修饰层表面并与所述第一底电极相对,所述并五苯薄膜设置在所述修饰层表面并与所述第二底电极相对;所述顶电极设置在所述修饰层表面同时覆盖部分覆盖所述PTCDI-C8薄膜和并五苯薄膜上表面,并穿过所述修饰层和绝缘层与第一底电极、第二底电极连接。
2.根据权利要求1所述低压驱动高增益值的反相器,其特征在于:所述Al2O3薄膜厚度为20~30nm。
3.根据权利要求2所述低压驱动高增益值的反相器,其特征在于:所述修饰层为PαMS薄膜。
4.根据权利要求3所述低压驱动高增益值的反相器,其特征在于:所述PTCDI-C8薄膜和并五苯薄膜厚度相同,均为40~60nm。
5.根据权利要求4所述低压驱动高增益值的反相器,其特征在于:所述底电极和顶电极均为Au,厚度均为20~40nm。
6.一种低压驱动高增益值的反相器的制备方法,其特征在于包括以下步骤:
1)在衬底上沉积相互分离的第一底电极和第二底电极;
2)沉积Al2O3薄膜作为绝缘层;
3)在所述Al2O3薄膜上旋涂PαMS溶液并进行退火处理得到PαMS薄膜作为修饰层;
4)在所述PαMS薄膜上与所述第一底电极相对的位置沉积PTCDI-C8薄膜,在所述PαMS薄膜上与所述第二底电极相对的位置沉积并五苯薄膜;
5)沉积覆盖PαMS薄膜、PTCDI-C8薄膜和并五苯薄膜的顶电极,然后刺穿所述PαMS薄膜和La2O3薄膜将所述顶电极与第一底电极、第二底电极连接起来。
7.根据权利要求6所述制备方法,其特征在于:步骤2)所述Al2O3薄膜采用原子沉积方法得到,沉积温度为140~150℃,沉积厚度为20~30nm。
8.根据权利要求6所述制备方法,其特征在于:步骤3)所述退火处理条件为在60~120℃下保持5~20min。
9.根据权利要求6所述制备方法,其特征在于:所述PTCDI-C8薄膜和并五苯薄膜均采用热蒸发法沉积得到,其沉积速率为0.02nm/s,沉积厚度为40-60nm,沉积时的衬底温度为50-100℃,气压为5×10-4~8×10-4Pa。
10.根据权利要求6所述制备方法,其特征在于:所述第一底电极、第二底电极和顶电极均为Au,均采用热蒸发法沉积得到,其沉积速率为0.02nm/s,沉积厚度为20~40nm,沉积时的气压为5×10-4~7×10-4Pa。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的