[发明专利]一种低压驱动高增益值的反相器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201810934955.2 申请日: 2018-08-16
公开(公告)号: CN109326622A 公开(公告)日: 2019-02-12
发明(设计)人: 陆旭兵;赖伟升;何宛兒 申请(专利权)人: 华南师范大学
主分类号: H01L27/28 分类号: H01L27/28;H01L51/30;H01L51/40
代理公司: 广州骏思知识产权代理有限公司 44425 代理人: 吴静芝
地址: 510006 广东省广州市番禺区外*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 反相器 衬底 绝缘层 并五苯薄膜 低压驱动 底电极 高增益 修饰层 制备 薄膜 电学性能 互补作用 顶电极 覆盖 功耗 匹配 转换
【权利要求书】:

1.一种低压驱动高增益值的反相器,其特征在于:包括衬底、第一底电极、第二底电极、绝缘层、修饰层、有源层和顶电极;所述第一底电极和第二底电极设置在所述衬底上并相互分离;所述绝缘层为Al2O3薄膜,其覆盖所述衬底、第一底电极和第二底电极上表面;所述修饰层设置在所述绝缘层上表面;所述有源层包括相互分离的PTCDI-C8薄膜和并五苯薄膜,所述PTCDI-C8薄膜设置在所述修饰层表面并与所述第一底电极相对,所述并五苯薄膜设置在所述修饰层表面并与所述第二底电极相对;所述顶电极设置在所述修饰层表面同时覆盖部分覆盖所述PTCDI-C8薄膜和并五苯薄膜上表面,并穿过所述修饰层和绝缘层与第一底电极、第二底电极连接。

2.根据权利要求1所述低压驱动高增益值的反相器,其特征在于:所述Al2O3薄膜厚度为20~30nm。

3.根据权利要求2所述低压驱动高增益值的反相器,其特征在于:所述修饰层为PαMS薄膜。

4.根据权利要求3所述低压驱动高增益值的反相器,其特征在于:所述PTCDI-C8薄膜和并五苯薄膜厚度相同,均为40~60nm。

5.根据权利要求4所述低压驱动高增益值的反相器,其特征在于:所述底电极和顶电极均为Au,厚度均为20~40nm。

6.一种低压驱动高增益值的反相器的制备方法,其特征在于包括以下步骤:

1)在衬底上沉积相互分离的第一底电极和第二底电极;

2)沉积Al2O3薄膜作为绝缘层;

3)在所述Al2O3薄膜上旋涂PαMS溶液并进行退火处理得到PαMS薄膜作为修饰层;

4)在所述PαMS薄膜上与所述第一底电极相对的位置沉积PTCDI-C8薄膜,在所述PαMS薄膜上与所述第二底电极相对的位置沉积并五苯薄膜;

5)沉积覆盖PαMS薄膜、PTCDI-C8薄膜和并五苯薄膜的顶电极,然后刺穿所述PαMS薄膜和La2O3薄膜将所述顶电极与第一底电极、第二底电极连接起来。

7.根据权利要求6所述制备方法,其特征在于:步骤2)所述Al2O3薄膜采用原子沉积方法得到,沉积温度为140~150℃,沉积厚度为20~30nm。

8.根据权利要求6所述制备方法,其特征在于:步骤3)所述退火处理条件为在60~120℃下保持5~20min。

9.根据权利要求6所述制备方法,其特征在于:所述PTCDI-C8薄膜和并五苯薄膜均采用热蒸发法沉积得到,其沉积速率为0.02nm/s,沉积厚度为40-60nm,沉积时的衬底温度为50-100℃,气压为5×10-4~8×10-4Pa。

10.根据权利要求6所述制备方法,其特征在于:所述第一底电极、第二底电极和顶电极均为Au,均采用热蒸发法沉积得到,其沉积速率为0.02nm/s,沉积厚度为20~40nm,沉积时的气压为5×10-4~7×10-4Pa。

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