[发明专利]运行中的独立磁盘冗余阵列奇偶校验计算有效
申请号: | 201810935177.9 | 申请日: | 2018-08-16 |
公开(公告)号: | CN109426583B | 公开(公告)日: | 2022-08-23 |
发明(设计)人: | 朱利恩·馬吉斯 | 申请(专利权)人: | 东芝存储器株式会社 |
主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 杨林勳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 运行 中的 独立 磁盘 冗余 阵列 奇偶校验 计算 | ||
1.一种数据存储装置,其包括:
非易失性半导体存储阵列;
控制器,其与所述非易失性半导体存储阵列通信;以及
含有RAID单元的缓冲器,所述RAID单元经由所述控制器与所述非易失性半导体存储阵列通信;
其中所述控制器经配置以:
从主机装置接收写入请求,所述写入请求中的每一个写入请求包括地址信息,所述地址信息指示与所述写入请求相关联的第一数据将在所述数据存储装置内的逻辑地址空间内被写入的位置,将与所述写入请求相关的第一数据累积在所述RAID单元中,
将上下文标识符与每个写入请求的所述地址信息相关联,
同时
将含于所述RAID单元中的所述第一数据传输到所述非易失性半导体存储阵列,
计算含于所述RAID单元中的所述第一数据的奇偶校验值,每一奇偶校验值与每一写入请求相关,
将所述奇偶校验值累积在与相应写入请求的所述上下文标识符相关联的上下文标识符奇偶校验缓冲器中,且
将所述奇偶校验值和所述上下文标识符存储在所述非易失性半导体存储阵列中。
2.根据权利要求1所述的数据存储装置,其中所述第一数据包括经划分成第一数据部分的第一数据页面。
3.根据权利要求2所述的数据存储装置,其中使用所述第一数据部分计算所述奇偶校验值。
4.根据权利要求3所述的数据存储装置,其中所述上下文标识符缓冲器使用所有所述第一数据页面的相同第一数据部分计算所述奇偶校验值。
5.根据权利要求4所述的数据存储装置,其中通过执行逻辑异或操作使用含于所述上下文标识符缓冲器中的所有所述第一数据页面的所述相同第一数据部分来计算所述奇偶校验值。
6.根据权利要求1所述的数据存储装置,其中所述控制器经进一步配置以将标识符分配到含于每一RAID单元中的所述第一数据。
7.根据权利要求1所述的数据存储装置,其中所述标识符包括最终旗标、页面位图和偏移位图中的至少一个。
8.根据权利要求1所述的数据存储装置,其中每一RAID单元中的所述第一数据与所述标识符一起存储在所述非易失性半导体存储阵列中。
9.根据权利要求1所述的数据存储装置,其中所述缓冲器是DRAM缓冲器。
10.根据权利要求1所述的数据存储装置,其中所述RAID单元经实施为RAID 5。
11.一种数据存储装置,其包括:
非易失性半导体存储阵列,其含有第一数据;
控制器,其与所述非易失性半导体存储阵列通信;以及
含有RAID单元的缓冲器,所述RAID单元经由所述控制器与所述非易失性半导体存储阵列通信;
其中所述控制器经配置以:
从主机装置接收存储于所述非易失性半导体存储阵列中的第二数据的读取请求;
确定与所述所请求的第二数据相关联的标识符;
确定所述所请求的第二数据是否含有不可恢复的错误;
如果所述所请求的第二数据含有不可恢复的错误,那么累积包含奇偶校验值的第一数据,所述第一数据含于与重构缓冲器中的所述所请求的第二数据相同的标识符相关联的所述非易失性半导体存储阵列中;
从所述所累积的第一数据和所述奇偶校验值重构所述所请求的第二数据;以及
经由所述RAID单元将所述经重构的第二数据传输到所述主机装置。
12.根据权利要求11所述的数据存储装置,其中通过对所述所累积的第一数据和所述奇偶校验值执行逻辑异或操作来重构所述所请求的第二数据。
13.根据权利要求11所述的数据存储装置,其中所述控制器使用查找表确定所述所请求的第二数据在所述非易失性半导体存储阵列中的位置。
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