[发明专利]一种基于MTP预端接光缆的测试方法

说明书

本发明涉及一种基于MTP预端接光缆的测试方法，其步骤依次为：测试并确定LC‑LC参考跳线和LC‑LC测试跳线；光功率计测试数据的校正；确定所要使用的合格的LC‑MTP带针测试跳线；对预端接光缆系统的测试。该发明中通过确定的参考跳线和测试跳线对光功率计的数据予以校正，并在同样的测试系统下选定LC‑MTP带针测试跳线，依据选定的LC‑MTP带针测试跳线来对MTP预端接的光缆测试，测试简单快捷方便也不会损坏光缆，极大的提高测试效率以及测试数据的准确性。

技术领域

本发明涉及光通信领域，尤其是一种简单方便快捷且测试数据准确的基于MTP预端接光缆的测试方法。

背景技术

5G作为驱动下一个10年信息产业和社会经济发展的巨大引擎，其超密集组网的建设方式，将直接拉动天线、射频、光纤光缆、光模块、系统集成等全产业链的投资规模提升。当前运营商进行基站建设时，光纤到基站采用的主要是拉远光缆组件，RRU与BBU之间通常采用1-2芯光纤作为通信通路，提供1个收发并行通道与SFP光模块配合。但随着5G对承载网络传输速率和容量的需求提升，传统的2芯跳线已经无法满足需求，由此可以预见，多芯的MTP跳线被用于室外移动通信的趋势将越来越明朗，MTP跳线耐磨、阻燃，抗拉性强，更适用于室外环境或复杂的施工环境。另一方面，采用高密度多芯光纤连接器(MTP)可以增加单个基站的天线数量，进而增加单个基站的通信容量。这也意味着，MTP光缆及其配套组件，将可能成为未来5G网络建设的需求热门。而随着光缆制造行业的竞争日益激烈，光缆制造成本和光缆产品质量的好坏则成为企业发展的突出问题，作为光缆质量的关键指标之一：光纤衰减的检测和控制以及测试的效率高低一直是光缆制造企业的瓶颈，而现有的测试方法，不仅要配备大量的测试人员花费大量时间耦合干预，还可能损坏光纤，而且还会由于测试系统中测试数据产生的误差而导致不合格产品流入下道工序，甚至流入市场，引起质量事故的发生和高额的经济赔偿。因此这种传统的测试方法在现场链路损耗测试中，操作复杂，容易出错，效率低下，测试数据的准确度也不高。

发明内容

针对现有的不足，本发明提供一种简单方便快捷且测试数据准确的基于MTP预端接光缆的测试方法。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种基于MTP预端接光缆的测试方法，其步骤为：

(1)使用LC-LC跳线将带有LC接口的光源和光功率计相连，测试并确定一条LC-LC参考跳线和多条LC-LC测试跳线；

(2)光功率计测试数据的校正：将光源和光功率计对应连接步骤(1)中确定的LC-LC参考跳线和一条LC-LC测试跳线，并在LC-LC参考跳线和LC-LC测试跳线中再连接一条LC-LC测试跳线形成具有LC连接器对的测试系统，然后通过测试链路损耗来对光功率计测试数据校正；

(3)确定所要使用的合格的LC-MTP带针测试跳线：在步骤(2)的测试系统中移除与LC-LC参考跳线连接的LC-LC测试跳线，将两根多芯LC-MTP带针测试跳线各通过一个相同颜色的光纤分支对应连接在与光源连接的LC-LC参考跳线和与光功率计连接的LC-LC测试跳线上，然后将两端都不带针的MTP-MTP标准测试跳线连接在两根LC-MTP带针测试跳线之间，测试LC-MTP带针测试跳线上该光纤分支的链路损耗，然后断开该光纤分支的连接，之后依次连接测试LC-MTP带针跳线上各光纤分支的链路损耗，在测得的各光纤分支的损耗值都不大于1.5db时确认该测试系统中的LC-MTP带针测试跳线为合格的LC-MTP带针测试跳线；

(4)预端接光缆系统的测试，依据步骤(3)中的测试系统，移除两端都不带针的MTP-MTP标准测试跳线，将预端接光缆中两端不带针MTP连接器与LC-MTP带针测试跳线上的带针MTP连接器连接，然后依次连接断开两个LC-MTP带针测试跳线上各光纤分支与LC-LC参考跳线和LC-LC测试跳线的连接，且两个LC-MTP带针测试跳线上每次连接的光纤分支颜色相同，测试记录每个光纤分支在连接时的链路损耗测量值，该测量值即为每个光纤分支的链路损耗。