[发明专利]一种存储数据的读取方法及装置

说明书

本发明实施例公开了一种存储数据的读取方法及装置，该方法通过采用至少两个不同的读取参考电信号，读取存储器中的存储数据；在不同的参考电压对同一存储数据进行读取的结果相同时，判断出该存储数据为可靠数据；而在不同的参考电信号对同一存储数据进行读取的结果不相同时，判断出该存储数据为存疑数据。本发明实施例提供的存储数据的读取方法及装置，能够通过采用至少两个不同的参考电信号对存储数据进行读取，并判断所读取存储数据的可靠性，从而能够采用简单的存储数据读取方法，使得存储器中存储数据的读取结果更加准确。

技术领域

本发明实施例涉及存储数据处理技术领域，尤其涉及一种存储数据的读取方法及装置。

背景技术

存储器中包含许多存储单元，存储单元具有存储数据和读写数据的功能。通常存储器的存储单元中的存储数据并不是直接的二进制数据“0”或“1”，而是与存储单元中存储的数据相关的电信号。在读取存储单元中存储的数据时，通过一个参考电信号与存储单元中存储的电信号相比较，并将比较结果转换成二进制数据“0”或“1”。

由于存储单元中电信号的电性差异较小，需采用灵敏放大器将存储单元中微弱的电性差异读取出来，再转换成二进制数据“0”或“1”。然而在存储器实际应用中，灵敏放大器会受到温度和电压等影响，同时存储单元中存储的电信号也会受温度，数据保持力，宇宙射线等影响，这可能使得从存储单元中读取的数据不可靠。为了提高对存储器的存储单元中读取数据的可靠性，可采用奇偶校验的方式对读取的数据进行验证，若验证通过，则读取的数据可靠；若验证失败，则读取的数据不可靠。可见，奇偶校验仅能判断读取的数据是否可靠。由此，现有技术中采用错误检查和纠正(Error Correcting Code，ECC)技术，通过将汉明码插入存储单元的原存储数据中，即在存储单元中设置相应的校验位，以侦测并更正存储单元中单一比特的错误。

但是，ECC纠错检错的方式在存储数据较少时，汉明码占用的存储空间相对于奇偶校验大，而奇偶校验无法检测出单一比特出错的位置。且在存储数据较多时，ECC纠错检错的方式逻辑推理困难，使得读取数据的时间延迟大。因此，现有技术中没有一种高可靠性，且简单易行的存储数据读取方法。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种存储数据的读取方法及装置，能够使读取的数据具有高可靠性，且读取方式简单易行，无需占用存储器较大的内存空间。

第一方面，本发明实施例提供了一种存储数据的读取方法，包括：

获取至少两个不同的读取参考电信号；

分别通过所述至少两个不同的读取参考电信号读取所述存储器中的存储数据；

判断通过所述至少两个不同的读取参考电信号读取所述存储器中的同一存储数据的读取结果是否均相同；若是，则读取的所述存储器中的存储数据为可靠数据；否则，读取的所述存储器中的存储数据为存疑数据。

可选的，在获取至少两个不同的读取参考电信号之前，还包括：

对所述存储器中的存储数据组设置对应的校验位。

可选的，所述方法还包括：

获取与所述存储数据组对应的校验位；

根据所述校验位，对包括所述存疑数据的所述存储数据组进行校验。

可选的，根据所述校验位，对包括所述存疑数据的所述存储数据组进行校验，包括：

若根据所述校验位，对包括所述存疑数据的所述存储数据组校验成功，则所述存疑数据为可靠数据；或者，

若采用所述校验位，对包括所述存疑数据的所述存储数据组校验失败，则将所述存疑数据取反，并作为所述存疑数据的读取数据。

可选的，所述校验位包括奇偶校验位。