[发明专利]一种用于伊辛芯片的局部搜索方法及电路

权利要求书

1.一种用于伊辛芯片的局部搜索方法，其特征在于，步骤包括：

S1.预分组求和：预先将由所需输入问题映射得到的伊辛模型系数分为多组，将得到的各分组伊辛模型系数进行求和运算后，得到多组系数求和数据；

S2.局部搜索：将各组所述系数求和数据提供给伊辛芯片中各自旋计算节点，各自旋计算节点根据相连各自旋计算节点的自旋状态，使用各分组所述系数求和数据计算局部搜索项；

所述步骤S1中各分组伊辛模型系数进行求和运算时，每个分组按照J₁±J₂±…±J_m进行求和运算，其中J₁、J₂、…、J_m为对应分组中各伊辛模型系数，m为对应分组中伊辛模型系数的个数，±取加法或减法运算，每个分组对应得到2^m-1个系数求和结果；所述伊辛模型系数包括与相连自旋计算节点的相互作用系数J_ij，以及外磁场作用系数h；

所述步骤S2中自旋计算节点计算局部搜索项的步骤包括：

S21.多路选择：根据与目标自旋计算节点相连接的各个自旋计算节点的自旋状态，依次从每组所述系数求和数据中选出一个系数求和结果，得到多个系数求和结果；

S22.符号运算：根据所述相连接的各个自旋计算节点的自旋状态，确定各个所述系数求和结果的正负号；

S23.求和运算：将所述步骤S22输出的各个所述系数求和结果进行求和运算，得到目标自旋计算节点的局部搜索项。

2.根据权利要求1所述的用于伊辛芯片的局部搜索方法，其特征在于：所述步骤S21中从每组所述系数求和数据中选出一个系数求和结果包括：接入一组所述系数求和数据所对应的2^m-1个系数求和结果其中i＝1,2,…,m-1，±下的数字表示对应的编号，相连的各自旋计算节点的自旋值为σ₁，…，σ_m，第i个±按照σ₁σ_i+1的取值选取，且当σ₁σ_i+1＝+1时取加法运算，当σ₁σ_i+1＝－1时取减法运算，如果第i+1个系数是外磁场系数h，则第i个±按照－σ₁的取值选取，输出选出的系数求和结果。

3.根据权利要求2所述的用于伊辛芯片的局部搜索方法，其特征在于：所述步骤S22中

根据各组伊辛模型系数中第一个自旋值σ₁确定对应组选取得到的所述系数求和结果的正负号，其中如果σ₁＝+1，则确定对应所述系数求和结果为正；如果σ₁是－1，则确定对应所述系数求和结果为负。

4.一种用于伊辛芯片的局部搜索电路，其特征在于，包括：

预分组求和模块，用于预先将由所需输入问题映射得到的伊辛模型系数分为多组，将得到的各分组伊辛模型系数进行求和运算后，得到多组系数求和数据；

局部搜索模块，用于将各组所述系数求和数据提供给伊辛芯片中各自旋计算节点，各自旋计算节点根据相连各自旋计算节点的自旋状态，使用各分组所述系数求和数据计算局部搜索项；

所述预分组求和模块中各分组伊辛模型系数进行求和运算时，每个分组按照J₁±J₂±…±J_m进行求和运算，其中J₁、J₂、…、J_m为对应分组中各伊辛模型系数，m为对应分组中伊辛模型系数的个数，±取加法或减法运算，每个分组对应得到2^m-1个系数求和结果；

所述局部搜索模块包括：

多路选择单元，用于根据与目标自旋计算节点相连接的各个自旋计算节点的自旋状态，依次从每组所述系数求和数据中选出一个系数求和结果，得到多个系数求和结果；

符号运算单元，根据所述相连接的各个自旋计算节点的自旋状态，确定各个所述系数求和结果的正负号；

求和运算单元，用于将所述符号运算单元输出的各个所述系数求和结果进行求和运算，得到目标自旋计算节点的局部搜索项。