[发明专利]一种短周期批产化卫星的测试方法

说明书

一种短周期批产化卫星的测试方法。本申请涉及一种批产化卫星的测试方法，其为批产化卫星综合测试项目中的桌面联试阶段的主要测试内容，且包括卫星接口测试和卫星功能及性能测试；其中所述卫星接口测试方法为卫星接口测试内容在批产化卫星同一批次的每颗星上的遍历测试；其中所述卫星功能及性能测试方法包括1)与硬件相关的功能和性能测试，和2)与软件相关的功能测试；其中所述与硬件相关的功能和性能测试采取在批产化卫星同一批次的每颗星上的遍历测试；以及其中所述与软件相关的功能测试考核的是星载软件，且又分成几个测试项目，分别在批产化卫星同一批次的每颗星上测试一部分，最终保证批产化卫星同一批次所有星上的测试内容覆盖全部测试项目。

技术领域

本申请涉及一种卫星的测试方法，特别是涉及一种应用于短周期批量化生产的卫星的测试方法。

背景技术

随着对航天产品需求的增加，我国航天事业飞速发展，卫星已经成为我国军用航天装备体系和民用航天服务体系的重要力量。研制单位迎来卫星繁荣发展的新时期，但同时也面临着更大的挑战，特别是在新型复杂卫星研制项目的进度方面。目前卫星研制项目由以往的单卫星研制向多卫星并行研制、单卫星执行任务向星座联合执行任务方向发展。卫星星座模式的发展和卫星功能的不断扩大，卫星电性能体系越来越复杂，使得卫星综合测试面临时间紧、任务重等诸多挑战，对卫星综合测试提出了更高的要求。

测试是卫星研制的重要组成部分，贯穿卫星整个研制过程，测试时间直接决定了卫星的研制周期，因此，卫星综合测试方法变得尤为重要。相对单个卫星的测试，批产化卫星数量大、时间紧，对综合测试的并行化、通用化等方面提出了更高的要求。

目前，我国卫星综合测试一直是以人为主相对独立的测试模式，不同型号卫星的测试设备相对独立，综合测试大多局限于单星测试，专用性强。由于卫星综合测试系统的独立，使得每颗卫星的综合测试系统都要配置相同的测试设备和测试人员，造成了设备和人员的浪费，资源配备的限制造成无法进行多星并行测试，无法完成短周期批量生产卫星的快速测试。如何提高测试效率，提高测试可靠性，进一步提高测试智能化水平，形成支持卫星全生命周期的测试技术，成为影响和制约系统级测试乃至卫星技术发展的突出问题。

因此，本领域仍然急需一种基于批产化卫星的综合测试方法。

发明内容

本申请之目的在于提供一种批产化卫星的测试方法。

为了实现上述目的，本申请提供下述技术方案。

本申请提供一种批产化卫星的测试方法，其为批产化卫星综合测试项目中的桌面联试阶段的主要测试内容，且包括卫星接口测试和卫星功能及性能测试；

其中所述卫星接口测试方法为卫星接口测试内容在批产化卫星同一批次的每颗星上的遍历测试；

其中所述卫星功能及性能测试方法包括1)与硬件相关的功能和性能测试，和2)与软件相关的功能测试；

其中所述与硬件相关的功能和性能测试采取在批产化卫星同一批次的每颗星上的遍历测试；以及

其中所述与软件相关的功能测试考核的是星载软件，且又分成几个测试项目，分别在批产化卫星同一批次的每颗星上测试一部分，最终保证批产化卫星同一批次所有星上的测试内容覆盖全部测试项目。

在本申请的一种实施方式中，所述批产化卫星的接口测试、功能及性能测试从卫星的各分系统展开。

在本申请的另一种实施方式中，所述分系统包括电源及总体电路分系统、星务分系统、测控分系统、数传分系统、热控分系统、姿轨控分系统、和载荷分系统。

在本申请的另一种实施方式中，所述接口测试包括地面设备测试、供电接口测试、单机功耗及浪涌测试、典型信号特性测试、接口匹配性测试、和通信协议测试。