[发明专利]一种133

说明书

本发明属于放射性气体源技术领域，涉及一种¹³³Xe模拟气体源的制备及探测效率校正方法。所述的方法包括如下步骤：(1)在每个EPS颗粒表面添加微量含有乙烯醇分子的树脂胶，并滴加1μl¹³³Ba放射性标准溶液；(2)将步骤(1)得到的EPS颗粒烘干、混匀后装入模拟源盒制成¹³³Ba模拟源；(3)通过γ谱仪测量步骤(2)制备的¹³³Ba模拟源的γ峰计数，并计算得到¹³³Ba的探测效率；(4)制备¹³³Xe气体源；(5)通过γ谱仪测量步骤(4)制备的¹³³Xe气体源的γ峰计数，并计算得到¹³³Xe的探测效率；(6)根据步骤(3)与步骤(5)的探测效率计算结果，计算¹³³Ba模拟源的效率传递因子。利用本发明的方法，能够模拟用于¹³³Xe的γ谱仪测量的探测效率刻度，使得刻度更为准确，偏差明显更小。

技术领域

本发明属于放射性气体源技术领域，涉及一种¹³³Xe模拟气体源的制备及探测效率校正方法。

背景技术

放射性惰性气体核素¹³³Xe是核设施领域主要监测的核素之一，其γ射线能量低。对包含¹³³Xe的放射性气体样品定量测量需要对γ谱仪进行探测效率刻度，但¹³³Xe半衰期太短，不适于制作标准源长期保存。因此，目前¹³³Xe的探测效率主要通过无源效率刻度软件计算，其计算原理为：首先对气体源进行分割，形成点源或者面源，再对点源或者面源的相对探测效率进行积分计算，并对体源本身的衰减、射线路径上容器和其他材料导致的衰减进行校正。但该方法计算结果与采用标准源刻度相比，偏差较大。

中国专利申请201310294436.1公开了放射性面源自动模拟刻度气体源探测效率装置及方法，以避免¹³³Xe探测效率测算的繁琐和误差。该专利的原理是通过动态测量面源探测效率计算气体源效率，但偏差依然较大。因此，需要更好的方法进行¹³³Xe探测效率的测量及校正。

发明内容

本发明的目的是提供一种¹³³Xe模拟气体源的制备及探测效率校正方法，以能够模拟用于¹³³Xe的γ谱仪测量的探测效率刻度，使得刻度更为准确，偏差明显更小。

为实现此目的，在基础的实施方案中，本发明提供一种¹³³Xe模拟气体源的制备及探测效率校正方法，所述的方法包括如下步骤：

(1)在每个低密度聚苯乙烯发泡材料颗粒表面添加0.5-1μl含有乙烯醇分子的树脂胶，并滴加1-2μl¹³³Ba放射性标准溶液；

(2)将步骤(1)得到的低密度聚苯乙烯发泡材料颗粒烘干、混匀后装入模拟源盒制成¹³³Ba模拟源；

(3)通过γ谱仪测量步骤(2)制备的¹³³Ba模拟源的γ峰计数，并计算得到¹³³Ba的探测效率；

(4)制备¹³³Xe气体源；

(5)通过γ谱仪测量步骤(4)制备的¹³³Xe气体源的γ峰计数，并计算得到¹³³Xe的探测效率；

(6)根据步骤(3)与步骤(5)的探测效率计算结果，计算¹³³Ba模拟源的效率传递因子，从而可将¹³³Ba模拟源的探测效率校正为¹³³Xe的γ谱仪测量的探测效率。