[发明专利]一种阵列基板、显示面板及显示装置有效
申请号: | 201810949258.4 | 申请日: | 2018-08-20 |
公开(公告)号: | CN108962016B | 公开(公告)日: | 2021-03-02 |
发明(设计)人: | 李彦辰;陈鹏;王景棚;杜化鲲 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司 |
主分类号: | G09F9/00 | 分类号: | G09F9/00 |
代理公司: | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人: | 莎日娜 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 阵列 显示 面板 显示装置 | ||
本申请提供了一种阵列基板、显示面板及显示装置,其中,阵列基板通过将信号输入电极设置在绑定区域,由于绑定区域位于阵列基板的边缘,距离有效显示区域较远,在rubbing过程中Rubbing布从信号输入电极到有效显示区域的距离相对现有技术增大,这样在PI配向工序中可以减小信号输入电极与周边位置膜厚差异的影响,使得信号输入电极对应的有效显示区域与有效显示区域其他位置的摩擦效果差异减小,进而提高显示产品显示亮度的均一性,同时可以提高产品良率、降低生产成本。
技术领域
本发明涉及显示技术领域,特别是涉及一种阵列基板、显示面板及显示装置。
背景技术
现有显示产品的制作过程中,为了在模组工序投入前检出显示屏中存在的不良,一般会在显示屏上设计cell test对合测试相关的电路。由于模组投入前的显示屏尚未贴附偏光片,也没有焊接IC和FPC,因此不能直接点亮。为了以相对简单的方式点亮显示屏,通常会在显示屏的引线区将所有Gate扫描线和Data数据线分组连接,并将分组后的走线引出连接至Cell test pad测试端子上。当通过外部探针给cell test pad加载合适的电学信号时,配合外置偏光片,即可点亮显示屏,以检测产品中存在的不良。
然而,由于cell test pad设置在引线区,距离有效显示区域较近,cell test pad与周边位置的膜厚不均一容易在PI配向工序中造成Rubbing摩擦效果的不均一,进而导致cell test pad相对应的有效显示区域中出现mura不良,即显示不均一。
发明内容
本发明提供及一种阵列基板、显示面板及显示装置,以提高显示均一性。
为了解决上述问题,本发明公开了一种阵列基板,所述阵列基板包括绑定区域和有效显示区域;
所述绑定区域的阵列基板包括:基板以及设置在所述基板上的信号输入电极和多个分立的绑定电极;所述有效显示区域内设置有多条信号线;
所述信号输入电极与所述多条信号线连接,用于向所述多条信号线输入检测信号。
可选地,所述基板包括:
衬底,以及依次层叠设置在所述衬底上的第一金属层、第一介质层和第二介质层,其中所述第一金属层靠近所述衬底设置,所述第一金属层包括多个分立的绑定位;
所述信号输入电极和所述绑定电极设置在所述第二介质层背离所述衬底的一侧,并分别通过设置在所述第一介质层和所述第二介质层上的过孔与对应的绑定位连接。
可选地,所述信号输入电极为连续的透明电极。
可选地,所述信号输入电极沿第一方向的尺寸大于0.3mm且小于0.8mm,沿第二方向的尺寸大于0.3mm且小于0.8mm;其中,所述第一方向与所述信号线的延伸方向垂直,所述第二方向与所述信号线的延伸方向平行。
可选地,所述绑定电极沿所述第一方向的尺寸大于0.1mm且小于0.3mm,沿所述第二方向的尺寸大于0.3mm且小于0.8mm。
可选地,所述阵列基板还包括引线区域,所述引线区域内设置有短路棒,所述多条信号线通过所述短路棒与所述信号输入电极连接。
可选地,所述信号线为数据信号线。
可选地,所述信号输入电极的膜层厚度与所述绑定电极的膜层厚度之差小于预设阈值。
为了解决上述问题,本发明还公开了一种显示面板,包括任一实施例所述的阵列基板。
为了解决上述问题,本发明还公开了一种显示装置,包括任一实施例所述的阵列基板。
与现有技术相比,本发明包括以下优点:
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