[发明专利]一种物联网测试信号生成方法和系统

说明书

本发明提供一种物联网测试信号生成方法和系统。该物联网测试信号生成方法包括：收集样本测试信号，并模拟样本测试信号出现的概率；根据样本测试信号对应的状态和样本测试信号出现的概率，采用状态转移法生成物联网的实际测试信号。该物联网测试信号生成方法，能按照各种复杂场景下模拟获得的样本测试信号出现的概率分布，生成符合该概率分布的实际测试信号，采用该实际测试信号，能够对物联网进行更好的测试，从而使物联网的测试能够更好地适应复杂的实际应用环境。

技术领域

本发明涉及通信技术领域，具体地，涉及一种物联网测试信号生成方法和系统。

背景技术

物联网信号种类繁多，如在智能家居中，就有灯、门磁、红外、水表、电表、气表等信号。实际场景中这些信号随机生成，并无一定顺序；同时使用频率各不相同，且满足一定的概率分布，例如灯的使用频率就大于水表，也就是灯信号概率大于水表信号概率。

物联网的测试工作非常繁琐，在实际测试环境中，不同硬件和软件组合，体系结构纵横交错，各种信号的概率分布会经常发生较大的变动。目前，在物联网的测试过程中，一般情况下是简单测试，即随意收集一些测试信号进行物联网的测试；或者，即使在大的物联网处理压力情况下也基本上是进行简单的概率测试。这使经过测试的物联网无法适应复杂的实际应用环境。

如何对物联网进行更好地测试，以使其能更好地适应复杂的实际应用环境已经成为目前亟待解决的问题。

发明内容

本发明针对现有技术中存在的上述技术问题，提供一种物联网测试信号生成方法和系统。该物联网测试信号生成方法，能按照各种复杂场景下模拟获得的样本测试信号出现的概率分布，生成符合该概率分布的实际测试信号，采用该实际测试信号，能够对物联网进行更好的测试，从而使物联网的测试能够更好地适应复杂的实际应用环境。

本发明提供一种物联网测试信号生成方法，包括：

收集样本测试信号，并模拟所述样本测试信号出现的概率；

根据所述样本测试信号对应的状态和所述样本测试信号出现的概率，采用状态转移法生成所述物联网的实际测试信号。

优选地，所述根据所述样本测试信号对应的状态和所述样本测试信号出现的概率，采用状态转移法生成所述物联网的实际测试信号包括：

步骤S110：构造状态转移矩阵；

步骤S111：给定一个当前样本测试信号；所述当前样本测试信号对应当前信号状态；

步骤S112：根据所述状态转移矩阵和所述当前信号状态生成下一个信号状态；所述下一个信号状态对应下一个信号；

步骤S113：比较所述当前样本测试信号出现的概率和所述下一个信号出现的概率；

如果所述当前样本测试信号出现的概率小于或等于所述下一个信号出现的概率，则执行步骤S114：将所述当前信号状态转移到所述下一个信号状态，并输出所述下一个信号作为所述实际测试信号；所述实际测试信号对应实际测试信号状态；

如果所述当前样本测试信号出现的概率大于所述下一个信号出现的概率，则执行步骤S115：生成一个符合0-1均匀分布概率的随机数，并比较所述随机数与所述下一个信号出现的概率/所述当前样本测试信号出现的概率；

如果所述随机数小于或等于所述下一个信号出现的概率/所述当前样本测试信号出现的概率，则执行所述步骤S114；如果所述随机数大于所述下一个信号出现的概率/所述当前样本测试信号出现的概率，则执行步骤S116：保持所述当前信号状态，并输出所述当前样本测试信号作为所述实际测试信号。

优选地，所述步骤S114之后还包括：步骤S114′：将所述当前信号状态更新为所述实际测试信号状态，并将所述当前样本测试信号更新为所述实际测试信号；然后继续执行所述步骤S112及以后的步骤；