[发明专利]光回波损耗的检定装置和检定方法

权利要求书

1.一种光回波损耗的检定装置，其特征在于，所述检定装置包括耦合器(11)、隔离器(12)、可变光衰减器(13)和预设长度的光纤(14)；

所述耦合器(11)包括接收光输入的干路端口(110)、第一支路端口(111)和第二支路端口(112)，所述第一支路端口(111)与所述隔离器(12)的输入端相连，所述隔离器(12)的输出端与所述可变光衰减器(13)的一端相连，所述可变光衰减器(13)的另一端与所述第二支路端口(112)通过预设长度的光纤(14)相连；

所述第一支路和所述第二支路的分光比为1：N。

2.根据权利要求1所述的检定装置，其特征在于，7≤N≤9。

3.根据权利要求1所述的检定装置，其特征在于，2km≤预设长度≤4km。

4.根据权利要求1所述的检定装置，其特征在于，

令所述第一支路的插入损耗为IL₁，所述隔离器的插入损耗为L_s，所述可变光衰减器的衰减为L_a，所述第二支路的插入损耗为IL₂，所述预设长度的光纤链路衰减为L_f；

则所述检定装置的光回波损耗R＝IL₁+L_s+L_a-IL₂-L_f。

5.根据权利要求4所述的检定装置，其特征在于，通过调节L_a的数值得到不同的R值。

6.一种光回波损耗的检定方法，其特征在于，所述方法包括；

将来自被校设备(2)的待测入射光输入至权利要求1至5任一所述的光回波损耗的检定装置中的所述耦合器(11)的干路端口，并从所述耦合器(11)的干路端口接收所述待测入射光的返回光；

基于所述待测入射光和所述返回光的功率得到被校设备的光回波损耗测量值；

用所述检定装置具有量值溯源的光回波损耗R校准所述光回波损耗测量值。