[发明专利]一种基于多源感知的产品质量特性误差溯源分析方法有效
申请号: | 201810955315.X | 申请日: | 2018-08-21 |
公开(公告)号: | CN109345060B | 公开(公告)日: | 2020-12-01 |
发明(设计)人: | 戴伟;吴孟遥;王美清 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G06Q10/06 | 分类号: | G06Q10/06 |
代理公司: | 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 | 代理人: | 刘广达 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 感知 产品质量 特性 误差 溯源 分析 方法 | ||
1.一种基于多源感知的产品质量特性误差溯源分析方法,其特征在于,包括:
利用历史数据建立工序之间的因果关系,所述历史数据包括对应所述工序的指标因素,所述指标因素为一种或多种,并且每一种指标因素为一个或多个,由多个相应的传感器采集获得,计算每道工序中指标因素的平均值,获得工序的指标因素的协方差矩阵,根据所述协方差矩阵,获得工序之间的相关系数矩阵;
对所述历史数据进行筛选,从而将筛选后的历史数据组成样本空间;
以所述样本空间作为分析标准,采用T^2控制图方法对实时数据进行监控;
根据所述工序之间的因果关系建立工序关系有向图,根据所述工序关系有向图,对出界的T^2统计值进行正交分解,获得分解项;
对所述分解项的T^2统计值进行出界分析,进而定位问题工序。
2.根据权利要求1所述的溯源分析方法,其特征在于,所述采用T^2控制图中的分析方法对所述历史数据进行筛选包括:
计算多元单值T^2统计值;
计算T^2控制图的控制上限和控制下限;
将所述T^2的统计值与所述控制上限和控制下限进行比较,对出界的T^2的统计值所对应的历史数据进行剔除;
将剔除后的历史数据重新计算其指标因素的平均值以及指标因素的协方差矩阵,并重复上述步骤,直到没有出界的T^2的统计值产生为止。
3.根据权利要求2所述的溯源分析方法,其特征在于,所述计算多元单值T^2的统计值包括:
根据所述指标因素的平均值以及所述指标因素的协方差矩阵计算多元单值T^2的统计值。
4.根据权利要求2所述的溯源分析方法,其特征在于,所述计算T^2控制图的控制上限和控制下限包括:
通过给定显著性水平值,计算T^2控制图的控制上限;
设T^2控制图的控制下限为0。
5.根据权利要求2所述的溯源分析方法,其特征在于,所述T^2的统计值的出界情况包括:
所述T^2的统计值大于等于控制上限,或所述T^2的统计值小于等于控制下限。
6.根据权利要求1所述的溯源分析方法,其特征在于,所述采用T^2控制图方法对实时数据进行监控包括:
根据所述实时数据,计算其对应的T^2统计值;
将所述对应的T^2统计值与控制上限和控制下限进行比较,从而对实时数据进行监控。
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